6.In this study, an atmospheric pre

6.In this study, an atmospheric pressure fluidized bed plasma (APFBP) system was designed and its decontamination effect on aflatoxigenic fungi (Aspergillus flavus and Aspergillus parasiticus) on the surface of hazelnuts was investigated. Hazelnuts were artificially contaminated with A. flavus and A. parasiticus and then were treated with dry air plasma for up to 5 min in the APFBP system at various plasma parameters. Significant reductions of 4.50 log (cfu/g) in A. flavus and 4.19 log (cfu/g) in A. parasiticus were achieved after 5 min treatments at 100% V — 25 kHz (655 W) by using dry air as the plasma forming gas. The decontamination effect of APFBP on A. flavus and A. parasiticus spores inoculated on hazelnuts was increased with the applied reference voltage and the frequency. No change or slight reductions were observed in A. flavus and A. parasiticus load during the storage of plasma treated hazelnuts whereas on the control samples fungi continued to grow under storage conditions (30 days at 25 °C). Temperature change on hazelnut surfaces in the range between 35 and 90 °C was monitored with a thermal camera, and it was demonstrated that the temperature increase taking place during plasma treatment did not have a lethal effect on A. flavus and A. parasiticus spores. The damage caused by APFBP treatment on Aspergillus spp. spores was also observed by scanning electron microscopy.
แปล

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

6.ในการศึกษานี้ เป็นความดันบรรยากาศ fluidized เตียงพลาสม่า (APFBP) ระบบถูกออกแบบ และมีการตรวจสอบผลของ decontamination aflatoxigenic เชื้อรา (Aspergillus flavus และ Aspergillus parasiticus) บนพื้นผิวของ hazelnuts Hazelnuts เหือดถูกปนเปื้อน ด้วย A. flavus และ A. parasiticus แล้ว ได้รับการรักษา ด้วยพลาสม่าอากาศแห้งสำหรับถึง 5 นาทีในระบบ APFBP ที่พารามิเตอร์ต่าง ๆ ของพลาสม่า อย่างมีนัยสำคัญลด 4.50 ล็อก (cfu/g) ใน A. flavus และล็อก 4.19 (cfu/g) ใน A. parasiticus สำเร็จหลังจาก 5 นาทีรักษา 100% V — 25 kHz (655 W) โดยใช้อากาศแห้งเป็นพลาสมาที่เป็นแก๊ส Decontamination ผลของ APFBP A. flavus และ A. parasiticus เพาะเฟิร์นที่ inoculated บน hazelnuts ขึ้นกับแรงดันอ้างอิงที่ใช้และความถี่ ไม่เปลี่ยนแปลงหรือลดน้อยสุภัค A. flavus และ A. parasiticus โหลดระหว่างการเก็บรักษาของพลาสม่ารับ hazelnuts ขณะบนตัวควบคุมตัวอย่างเชื้อรายังคงเจริญเติบโตภายใต้สภาพการจัดเก็บ (30 วันที่ 25 ° C) เปลี่ยนแปลงอุณหภูมิบนพื้นผิวเฮเซลนัทในช่วงระหว่าง 35 และ 90 ° C ถูกตรวจสอบ ด้วยกล้องความร้อน และจะถูกแสดงที่เพิ่มอุณหภูมิการสถานระหว่างพลาสม่ารักษาไม่มีผลเป็นยุทธภัณฑ์ A. flavus และ A. parasiticus เพาะเฟิร์น ความเสียหายที่เกิดจากการบำบัด APFBP Aspergillus โอเพาะเฟิร์นยังได้ถูกตรวจสอบ โดยการสแกน microscopy อิเล็กตรอนแปล

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

6 . ในการศึกษาครั้งนี้ , ความดันบรรยากาศแบบฟลูอิดไดซ์เบดพลาสมา ( apfbp ) ระบบถูกออกแบบและผลกระทบของสารพิษใน aflatoxigenic รา ( Aspergillus flavus และ Aspergillus ผู้ดูแล ) บนพื้นผิวของเฮเซลนัท ถูกสอบสวน เฮเซลนัทถูกเทียมปนเปื้อนเชื้อรา และ . . .ผู้ดูแลและรักษาด้วยอากาศแห้งพลาสมาถึง 5 นาทีในระบบ apfbp ที่พารามิเตอร์พลาสมาต่าง ๆ ลดระดับ 4.50 Log cfu / g ) A . flavus 4.19 และ Log cfu / g ) A . ผู้ดูแล หลังได้รับการรักษา เป็น 5 นาทีที่ 100 % V - 25 kHz ( 655 W ) โดยการใช้อากาศแห้งเป็นพลาสมาเป็นก๊าซ การชำระล้างผลของเชื้อรา และ apfbp บน . . .ผู้ดูแล สปอร์เชื้อบน hazelnuts เพิ่มขึ้นกับการประยุกต์ใช้อ้างอิงแรงดันไฟฟ้าและความถี่ ไม่มีการเปลี่ยนแปลงหรือลดลงเล็กน้อยที่พบใน A flavus และ ผู้ดูแล โหลดเก็บในพลาสมาทำกับ hazelnuts ในขณะที่ตัวอย่างควบคุมเชื้อราขยายตัวอย่างต่อเนื่องภายใต้เงื่อนไขกระเป๋า 30 วัน ที่ 25 ° C )การเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิบนพื้นผิวเฮเซลนัทในช่วงระหว่าง 35 และ 90 ° C ถูกตรวจสอบด้วยกล้องความร้อน , และมันแสดงให้เห็นว่าการเพิ่มขึ้นของอุณหภูมิที่เกิดขึ้นในระหว่างการรักษาและไม่ได้มีผลร้ายแรงต่อ A . flavus . ผู้ดูแล และสปอร์ ความเสียหายที่เกิดจากการ apfbp Aspergillus spp . สปอร์ก็สังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดแปล

.