also shows XRD patterns for the cop

also shows XRD patterns for the copper oxide thin films with the presence of three new peaks at 36, 39 and 49°
(2θ) and the lack of the peak at 12.85° due to the parent material, CHN.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

แสดงรูปแบบ XRD สำหรับออกไซด์ทองแดงฟิล์มบาง มีสามยอดใหม่ที่ 36, 39 และ 49 °(2θ) และสูงสุดที่ 12.85° เนื่องจากวัสดุหลัก CHN ขาด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ยังแสดงให้เห็นรูปแบบ XRD ทองแดงออกไซด์ฟิล์มบางที่มีการปรากฏตัวของสามยอดใหม่ที่ 36, 39 และ 49 °
(2θ) และการขาดจุดสูงสุดที่ 12.85 องศาเนื่องจากวัสดุแม่ CHN

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ยังแสดงวิเคราะห์รูปแบบสำหรับทองแดงออกไซด์แบบฟิล์มบางด้วยการแสดงตนของ สาม ยอดใหม่ที่ 36 , 39 และ 49 /
( 2 θ ) และการขาดของยอดที่ 12.85 องศาเนื่องจากผู้ปกครองวัสดุ , CHN .