The scanning electron microscope an

The scanning electron microscope analysis (SEM) was performed on a FEI Quanta 3D 200 dual beam focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM). The images were acquired using secondary electron imaging at an accelerating voltage of 5–15 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ทำการวิเคราะห์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ตาม 3D ควอนตั้มเฟย 200 ลำแสงคู่โฟกัสไอออนบีมกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM โลตอแหล) ภาพได้รับมาใช้อิเล็กตรอนทุติยภาพที่แรงดันการเร่งของ 5 – 15 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวิเคราะห์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ได้รับการดำเนินการบนเฟควอนตั้ม 3D 200 คานคู่มุ่งเน้น Ion Beam กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FIB-SEM) ภาพที่ได้มาใช้ในการถ่ายภาพอิเล็กตรอนรองที่แรงดันไฟฟ้าเร่ง 5-15 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( SEM ) และแสดงบนเฟย Quanta 3D 200 คู่ลำแสงโฟกัสลำแสงไอออนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( fib-sem ) ภาพโดยใช้ภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิที่เร่งแรงดัน 5 – 15 kV .