X-ray diffraction (XRD) measurement

X-ray diffraction (XRD) measurements were performed using a
Bruker AXN model with a Cu-K˛ radiation ( = 1.5418A˚ ) source and
operated at a scan rate of 0.02◦ s−1 over a 2 range of 10–80

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray diffraction (XRD) วัดได้ดำเนินการโดยใช้
แบบจำลองทางช่อง AXN Bruker กับรังสี Cu-K (? = 1.5418A˚) แหล่งที่มาและ
ดำเนินการในอัตราที่สแกน0.02◦ s-1 มากกว่า 2? ช่วง 10-80

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ) การวัดการใช้แบบจำลอง AXN
บรุคเกอร์กับ cu-k ˛รังสี (  = 1.5418a ˚ ) แหล่ง
ดำเนินการสแกนอัตรา 0.02 ◦ s − 1 มากกว่า 2  ช่วง 10 - 80