Transmission electron microscopy, a

Transmission electron microscopy, atomic force microscopy, X-ray photoelectron spectroscopy, UVVis
spectroscopy, and Raman spectroscopy are used to characterize the material properties of the resulting nanomaterials.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ส่งอิเล็กตรอน microscopy แรงอะตอม microscopy เอกซเรย์ photoelectron ก UVVisก และรามันกใช้ในการกำหนดลักษณะคุณสมบัติวัสดุของ nanomaterials ผลลัพธ์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม, สเปกโทรสโกโฟโต X-ray UVVis
สเปกโทรสโกและสเปคโทรรามันจะใช้ในลักษณะคุณสมบัติของวัสดุของวัสดุนาโนที่เกิด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม , X-ray photoelectron spectroscopy ,
uvvis สเปกโทรสโกปี และรามานสเปกโทรสโกปีใช้เพื่อวิเคราะห์คุณสมบัติของวัสดุของที่เกิด nanomaterials .