The XRD patterns confirmed that the

The XRD patterns confirmed that the hexagonal wurtzite type
polycrystalline structure of the films and the incorporation of Al lead to substantial changes in the structural characteristics of ZnO films.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปแบบการ XRD ยืนยันว่า wurtzite หกเหลี่ยมพิมพ์คโครงสร้างของภาพยนตร์และการรวมตัวของอัลทำให้พบการเปลี่ยนแปลงในลักษณะโครงสร้างของ ZnO ภาพยนตร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบ XRD ยืนยันว่าชนิดหกเหลี่ยม wurtzite
โครงสร้างผลึกของภาพยนตร์และรวมตัวกันของอัลนำไปสู่การเปลี่ยนแปลงที่สำคัญในลักษณะโครงสร้างของภาพยนตร์ซิงค์ออกไซด์