Reliability building involves the t

Reliability building involves the techniques and procedures used to ensure a predetermined reliability level for a given product, as evaluated through reliability assessing. In this chapter, we describe the basic rules of reliability building. Then, we consider the failure risks associated with some representative types of discrete electronic components (capacitors, diodes, and transistors), identifying the possible failure mechanisms (FMs) (the physical-chemical processes that produce the failure) and recommending corrective actions. We conclude by examining electrostatic discharge (ESD), a FM that can arise in any electronic component, and we propose possible methods for preventing ESD.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สร้างความน่าเชื่อถือเกี่ยวข้องกับเทคนิคและขั้นตอนใช้ให้ระดับความน่าเชื่อถือที่กำหนดไว้สำหรับสินค้าที่กำหนดให้ เป็นประเมินผ่านการประเมินความน่าเชื่อถือ ในบทนี้ เราอธิบายกฎพื้นฐานของการสร้างความน่าเชื่อถือ แล้ว เราพิจารณาความเสี่ยงล้มเหลวที่เกี่ยวข้องกับชนิดของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์แยกกัน (ตัวเก็บประจุ ไดโอดได้ และ transistors), พนักงานระบุกลไกความล้มเหลวได้ (FMs) (ทางกายภาพเคมีกระบวนการที่ทำให้เกิดความล้มเหลว) และแนะนำการดำเนินการแก้ไข เราสรุป ด้วยการปล่อยไฟฟ้าสถิต (ESD), FM ที่สามารถเกิดขึ้นได้ในทุกส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ การตรวจสอบ และเรานำเสนอถึงวิธีป้องกัน ESD

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

อาคารน่าเชื่อถือเกี่ยวข้องกับเทคนิคและวิธีการที่นำมาใช้เพื่อให้แน่ใจว่าระดับความน่าเชื่อถือที่กำหนดไว้สำหรับผลิตภัณฑ์ที่ได้รับการประเมินผ่านการประเมินความน่าเชื่อถือ ในบทนี้เราจะอธิบายกฎพื้นฐานของการสร้างความน่าเชื่อถือ จากนั้นเราจะพิจารณาถึงความเสี่ยงความล้มเหลวที่เกี่ยวข้องกับประเภทตัวแทนบางส่วนของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ที่ไม่ต่อเนื่อง (ตัวเก็บประจุไดโอดและทรานซิสเตอร์) ระบุความล้มเหลวของกลไกที่เป็นไปได้ (FMs) (กระบวนการทางกายภาพและทางเคมีที่ก่อให้เกิดความล้มเหลว) และแนะนำการดำเนินการแก้ไข เราสรุปได้โดยการตรวจสอบไฟฟ้าสถิต (ESD), เอฟเอ็มที่สามารถเกิดขึ้นในชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ใด ๆ และเรานำเสนอวิธีการที่เป็นไปได้ในการป้องกันการเกิดไฟฟ้าสถิต

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การสร้างความน่าเชื่อถือที่เกี่ยวข้องกับเทคนิคและวิธีการที่ใช้เพื่อให้แน่ใจว่าระดับความเชื่อมั่นที่กำหนดไว้เพื่อให้ผลิตภัณฑ์ เป็นแบบประเมินผ่านค่า ในบทนี้เราจะอธิบายกฎพื้นฐานของการสร้างความน่าเชื่อถือ แล้วเราพิจารณาความล้มเหลวของความเสี่ยงที่เกี่ยวข้องกับบางตัวแทนประเภทของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ไม่ต่อเนื่อง ( capacitors , ไดโอด และทรานซิสเตอร์ )ระบุกลไกความล้มเหลวที่เป็นไปได้ ( FMS ) ( ฟิสิกส์เคมีกระบวนการผลิตความล้มเหลว ) และแนะนำการแก้ไข เราสรุปได้โดยการตรวจสอบจากการคายประจุไฟฟ้าสถิต ( ESD ) , FM ที่สามารถเกิดขึ้นในชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ เรานำเสนอวิธีที่เป็นไปได้เพื่อป้องกัน ESD .