Detection of chemical elements pres

Detection of chemical elements present in the surface of pure
and functionalized mwCNTs was carried out by energy dispersive
X-ray (EDX) analysis using Philips XL-30S scanning electron microscope
equipped with EDX system.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การตรวจสอบขององค์ประกอบทางเคมีที่อยู่ในผิวบริสุทธิ์และปรับหมู่ฟังก์ชั่น mwCNTs ดำเนินการ โดยพลังงาน dispersiveเอ็กซเรย์ (เห็น EDX) วิเคราะห์โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด Philips XL-30Sพร้อมระบบเห็น EDX

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การตรวจหาองค์ประกอบทางเคมีที่อยู่ในพื้นผิวของบริสุทธิ์
MWCNTs และฟังก์ชันได้ดำเนินการโดยกระจายพลังงาน
รังสีเอกซ์ (EDX) การวิเคราะห์โดยใช้ฟิลิปส์ XL-30S กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบ
พร้อมกับระบบ EDX

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การตรวจสอบขององค์ประกอบทางเคมีที่มีอยู่ในพื้นผิวของเพียวที่มี mwcnts และกระทำโดยพลังงานกระจายตัวรังสีเอกซ์ ( การวัด ) การวิเคราะห์ใช้ Philips xl-30s กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนพร้อมระบบการวัด .