J. Figueras, A. M. Borsa and A. Fer

J. Figueras, A. M. Borsa and A. Ferré, “Test challenges in nanometric
CMOS technologies Microelectronic Engineering”, Proc. of the 3rd
Session on Reliability in VLSI circuits: operation, manufacturing and
design, Vol. 49, No. 1-2, 1999, pp. 119-133.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เจ Figueras, A. M. Borsa และ A. Ferré "ทดสอบความท้าทายใน nanometricเทคโนโลยี CMOS Microelectronic วิศวกรรม" Proc. 3เซสชันบนความน่าเชื่อถือในวงจร VLSI: การดำเนินการ การผลิต และออกแบบ ปี 49 หมายเลข 1-2, 1999 นำ 119-133

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เจ Figueras, AM Borsa และเอFerré "ความท้าทายในการทดสอบ nanometric
เทคโนโลยี CMOS ไมโครอิเล็กทรอนิกส์วิศวกรรม" พร ที่ 3
การประชุมเกี่ยวกับความน่าเชื่อถือในวงจร VLSI:
การดำเนินการผลิตและการออกแบบฉบับ 49, ฉบับที่ 1-2, ปี 1999 ได้ pp. 119-133

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เจ ฟิเกราส เอ เอ็ม บอร์ซาและ ferr é " ทดสอบความท้าทายใน nanometric
CMOS เทคโนโลยี microelectronic วิศวกรรม " proc . ของ 3
การประชุมเกี่ยวกับความน่าเชื่อถือในวงจรรวม : งาน , ออกแบบ , ฉบับที่ 49 , ฉบับที่ 1-2 , 1999 , pp . 119-133 การผลิตและ