For the microstructure investigatio

For the microstructure investigation, the dried JAT samples
were cut and mounted on brass specimen stubs using
electrically conductive double-sided adhesive tape. The
samples were then sputtered with gold (SCD 040, Balzers
Union, Switzerland) prior to microstructure observation
with a JEOL scanning electron microscope (SEM) (model
JSM-6610LV, Seal Laboratories, El Segundo, Cal.). Magnifications
of 100× to 500× and an accelerating voltage of
15 kV were applied using the signals of secondary and
backscattered electrons (Totosaus and Perez-Chabela,
2009).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เพื่อการตรวจสอบต่อโครงสร้างจุลภาค ตัวอย่าง JAT แห้งมีทองเหลืองตัด และติดอยู่ในสิ่งส่งตรวจโดยใช้สตับนำไฟฟ้าสองหน้ากาวเทป ที่ตัวอย่างแล้วถูก sputtered กับทอง (SCD 040, Balzersสหภาพ สวิตเซอร์แลนด์) ก่อนที่จะสังเกตการณ์ต่อโครงสร้างจุลภาคด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน JEOL (SEM) (รุ่นJSM-6610LV ห้องปฏิบัติการซีล El Segundo, Cal.) อัตราการขยายของ× 100 500 ×และแรงปัจจุบัน15 kV ที่ใช้สัญญาณของรอง และbackscattered อิเล็กตรอน (Totosaus และเปเรซ-Chabela2009)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สำหรับโครงสร้างการจัดตัวอย่างแห้ง
ถูกตัดและติดบนชิ้นงาน โดยใช้พลังงานไฟฟ้าต้นขั้วทองเหลือง
conductive เทปกาวสองหน้า .
ตัวอย่างแล้ว sputtered กับทอง ( SCD 040 บัลเซอร์
, สหภาพ , สวิตเซอร์แลนด์ ) ก่อน
การสังเกตโครงสร้างจุลภาคด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) จอล ( แบบ
jsm-6610lv ประทับตราห้องปฏิบัติการ , El Segundo , Cal ) magnifications
100 × 500 ×และเร่งแรงดันของ
15 กิโลไปใช้สัญญาณของทุติยภูมิและ
backscattered อิเล็กตรอน ( และ chabela
totosaus เปเรซ , 2009 )