2.3. Characterization
The structure of as-synthesized WO3 films were characterized with X-ray powder diffraction (XRD, Philips Dy 2198X, Holland, Cu Kα, λ¼1.5406 Å ) and settings of 40 mA and 40 kV at a scanning rate of 0.021/s ranging from 10 to 701 for the 2θ. The morphologies of the resulting products were investigated by scanning electron microscopy (SEM, JSM-5610LV, Japan, 20KV). Furthermore, optical properties of the resulting products were measured by UV–vis diffuse reflectance spectroscopy (Shimadzu UV 2550) with BaSO4 as the baseline correction
2.3 ลักษณะโครงสร้างของเป็นหนังสังเคราะห์ WO3 โดดเด่นด้วยเลนส์ผงรังสีเอ็กซ์ (XRD ฟิลิปส์ Dy 2198X, ฮอลแลนด์, Cu Kα, λ¼1.5406 A) และการตั้งค่า 40 มิลลิแอมป์และ 40 กิโลโวลต์ในอัตรา 0.021 สแกน / วินาที ตั้งแต่ 10-701 สำหรับ2θ
สัณฐานของผลิตภัณฑ์ที่เกิดขึ้นได้รับการตรวจสอบโดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM, JSM-5610LV, ญี่ปุ่น, 20KV) นอกจากคุณสมบัติทางแสงของผลิตภัณฑ์ที่เกิดขึ้นถูกวัดโดย UV-Vis สเปกโทรสโกสะท้อนกระจาย (Shimadzu UV 2550) ที่มีการแก้ไข BaSO4 พื้นฐาน
การแปล กรุณารอสักครู่..
2.3 ลักษณะโครงสร้างของ wo3
ที่มีฟิล์มลักษณะการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ( ผง XRD , ฟิลิปส์ ดี้ 2198x , ฮอลแลนด์ , Cu K αλ¼ , 1.5406 Å ) และการตั้งค่าของ MA 40 และ 40 กิโล ที่อัตราการสแกน 0.021/s ตั้งแต่ 10 ถึง 701 สำหรับ 2 θ . ลักษณะของผลิตภัณฑ์ที่เกิดขึ้นได้โดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM jsm-5610lv , ญี่ปุ่น , 20kv )นอกจากนี้ สมบัติเชิงแสงของผลิตภัณฑ์ซึ่งวัดจาก– UV VIS spectroscopy ( Shimadzu กระจายสะท้อน UV 2550 ) กับ baso4 เป็นฐานการแก้ไข
การแปล กรุณารอสักครู่..