AbbreviationsAC: alternating curren

Abbreviations
AC: alternating current; AFM: atomic force microscopy; ANN: artificial neural
network; BE: band excitation; BEPS: band excitation polarization spectroscopy;
c-AFM: conductive atomic force microscopy; CFO-BFO: CoFe2O4-BiFeO3;
CITS: current imaging tunneling spectroscopy; CMV: combination of multiple
views; DC: direct current; DM3: Digital Microscopy version 3; EDA: exploratory
data analysis; EDEN: Exploratory Data Analysis Environment; FFT: fast Fourier
transfrorm; FORC: first-order reversal curve; FORC-IV: first-order reversal curve
current-voltage; HPC: high-performance computing; HDF5: Hierarchical Data
Format version 5; ICA: independent component analysis; IV: current-voltage;
PCA: principal component analysis; PFM: piezoresponse force microscopy;
RHEED: reflection high-energy electron diffraction; SPM: scanning probe
microscopy; SS PFM: switching spectroscopy piezoresponse force microscopy;

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวย่อ
AC: กระแสสลับ; AFM: กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม; ANN: ประสาทเทียม
เครือข่าย เป็น: วงกระตุ้น; BEPS: วงกระตุ้นโพลาไรซ์สเปกโทรสโก;
C-AFM: สื่อกระแสไฟฟ้ากล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม; CFO-BFO: CoFe2O4-BiFeO3;
CITS: ปัจจุบันการถ่ายภาพอุโมงค์สเปกโทรสโก; CMV: การรวมกันของหลาย ๆ
มุมมอง; ดีซี: กระแสตรง; DM3: ดิจิตอลกล้องจุลทรรศน์รุ่น 3; EDA: สำรวจ
วิเคราะห์ข้อมูล EDEN: การวิเคราะห์ข้อมูลเชิงสำรวจสิ่งแวดล้อม FFT: ฟูริเยร์ได้อย่างรวดเร็ว
transfrorm; FORC: ลำดับแรกการกลับโค้ง; FORC-IV: ลำดับแรกการกลับโค้ง
ปัจจุบันแรงดัน; HPC: ประมวลผลประสิทธิภาพสูง; HDF5: ลำดับชั้นข้อมูล
รูปแบบรุ่น 5; ICA: การวิเคราะห์องค์ประกอบอิสระ iv: ปัจจุบันแรงดัน;
PCA: วิเคราะห์องค์ประกอบหลัก; PFM: piezoresponse กล้องจุลทรรศน์แรง;
RHEED: การสะท้อนพลังงานสูงอิเล็กตรอนเลี้ยวเบน; SPM: การสแกนสอบสวน
กล้องจุลทรรศน์; เอสเอส PFM: เปลี่ยนกล้องจุลทรรศน์สเปกโทรสโก piezoresponse บังคับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

Abbreviationsalternating：AC :原子力显微镜AFM参数；人工神经网络；：宽带网络；是保证：保证polarization光谱波段BEPS：；；导电原子力显微镜c-AFM：CoFe2O4-BiFeO3 CFO-BFO：；；成像光谱；隧道：当前国际CMV多元组合）：观点：current；直流；DM3：数字显微镜直接3版本：exploratory；EDA数据分析：数据分析探索；伊甸园；快速傅立叶变换FFT的环境：transfrorm；FORC：first-order reversal FORC-IV：first-order reversal曲线；曲线拟合高性能计算；high-performance current-voltage：HDF5：分层数据；格式：5版；独立元件分析ICA；Ⅳ：current-voltage；principal component；PCA分析：金属烤瓷冠：piezoresponse力显微镜；高能电子衍射；RHEED：取决于界面：扫描探针显微镜SS：交换PFM光谱；显微镜；piezoresponse力显微镜。