electron microscope operating at 75

electron microscope operating at 75 kV. The width of chromatin fibers was measured from the electron micrographs
negatives using catalase crystal with the lattice spacing
8.75 nm as the standard. For SEM, samples were attached
to coverslips previously coated with 0.1% poly-l lysine.
Samples were fixed and dehydrated as described above,
then critical-point dried and gold coated. Preparations were
examined in a LEO 1450 VP scanning electron microscope.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน 75 เควี โดยวัดความกว้างของเส้นใยโครมาตินจาก micrographs อิเล็กตรอนฟิล์มที่ใช้คริสตัลคา ด้วยระยะห่างตาข่าย8.75 nm เป็นมาตรฐาน แนบตัวอย่างสำหรับ SEMการ coverslips ก่อนหน้านี้เคลือบ ด้วยไลซีนโพลี l 0.1%ตัวอย่างถาวร และอบแห้งตามที่อธิบายไว้ข้างต้นแล้ว จุดสำคัญแห้ง และเคลือบทอง มีการเตรียมการตรวจในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดลีโอ 1450 VP

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนปฏิบัติการที่ 75 กิโลโวลต์ ความกว้างของเส้นใยโครมาวัดจากไมโครอิเล็กตรอน
เชิงลบโดยใช้ catalase คริสตัลที่มีระยะห่างตาข่าย
8.75 นาโนเมตรเป็นมาตรฐาน สำหรับ SEM, ตัวอย่างที่แนบมา
เพื่อ coverslips เคลือบด้วยก่อนหน้านี้ 0.1% Poly-L ไลซีน.
ตัวอย่างได้รับการแก้ไขและแห้งตามที่อธิบายไว้ข้างต้น
แล้วที่สำคัญจุดแห้งและเคลือบทอง การเตรียมการถูก
ตรวจสอบในราศีสิงห์ 1450 VP กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

งานกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ 75 KV . ความกว้างของเส้นใยโครมาตินซึ่งวัดจาก micrographs อิเล็กตรอนสามารถลบโดยใช้คริสตัลตาข่ายระยะห่าง8.75 nm เป็นมาตรฐาน สำหรับ SEM , จำนวนที่แนบมาเพื่อ coverslips ก่อนหน้านี้เคลือบด้วย 0.1% poly-l ซีนจำนวนคงที่และแห้งตามที่อธิบายไว้ข้างต้นแล้ววิกฤตแห้งและทองเคลือบ การเตรียมคือตรวจสอบในราศีสิงห์ 1450 ของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน