3.4. X-ray analysisThe XRD results

3.4. X-ray analysis

The XRD results of silica being pretreated at 600 °C for 2 h are shown in Fig. 5. The XRD of samples was almost overlapped. There was a dome-shaped peak at lower diffraction angles around 2θ = 22° which was a major reflection plane (002) (JSPDS 00-050-1432) of silica, and no sharp diffraction peak was observed indicating an amorphous phase of silica.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

3.4 การวิเคราะห์เอ็กซ์เรย์มีแสดงผล XRD ของซิลิกาที่มี pretreated ที่ 600 ° C สำหรับ 2 h ใน Fig. 5 XRD อย่างเหตุการณ์เกือบได้ สูงสุดรูปโดมมีการเลี้ยวเบนทำมุมที่ต่ำกว่าสถาน 2θ = 22° ซึ่งเป็นเครื่องบินหลักสะท้อน (002) (JSPDS 00-050-1432) ของซิลิก้า และการเลี้ยวเบนที่คมชัดสูงไม่ถูกสังเกตแสดงขั้นตอนการไปของซิลิก้า

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

3.4 การวิเคราะห์การเอ็กซ์เรย์ผล XRD ของซิลิกาถูกปรับสภาพที่ 600 องศาเซลเซียสเป็นเวลา 2 ชั่วโมงจะมีการแสดงในรูป 5. XRD ของกลุ่มตัวอย่างที่ได้รับการซ้อนทับเกือบ มียอดโดมที่มุมการเลี้ยวเบนต่ำรอบ2θ = 22 องศาซึ่งเป็นภาพสะท้อนที่สำคัญเครื่องบิน (002) (JSPDS 00-050-1432) ซิลิกาและไม่มีเลนส์คมชัดสูงสุดพบว่าแสดงให้เห็นขั้นตอนของซิลิกาอสัณฐาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

Diligent, patience.