Crystallographic structure of the f

Crystallographic structure of the films was characterized by
x-ray diffraction (XRD, Philips MRD) using a Cu Kα radiation.
Thin film specimens for TEM observation were fabricated
using a focused ion beam (FIB) machine with a micro-sampling
unit. Observations were performed with a JEM-2000EX/T and
TECNAI-F20 (STEM-EDS) microscopes.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มีลักษณะโครงสร้าง crystallographic ของภาพยนตร์ การเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์ (XRD, MRD ฟิลิปส์) โดยใช้รังสี Cu Kα ไว้เป็นตัวอย่างของฟิล์มบางสำหรับยการสังเกตได้หลังสร้าง ด้วยการโฟกัสไอออนบีม (ตอแหล) เครื่องไมโครสุ่ม หน่วยการ สังเกตการณ์ดำเนินกับ JEM-2000EX/T และ TECNAI-F20 (ก้าน-EDS) กล้องจุลทรรศน์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างทางของภาพยนตร์มีลักษณะ
การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ , Philips MRD ) โดยใช้ Cu K αรังสี
ตัวอย่างฟิล์มบางสำหรับการสังเกต TEM ถูกประดิษฐ์
ใช้โฟกัสไอออนบีม ( FIB ) ด้วยเครื่อง Micro ตัวอย่าง
หน่วย สังเกตการด้วย jem-2000ex / T
tecnai-f20 ( stem-eds ) และกล้องจุลทรรศน์