Figure 4. Circuit model used to fit the Nyquist plots.Rs is the solvent resistance, Rf the film resistance, Rct the charge transfer resistance, CPE1the film capacitance, CPE2 the double layer (the functional and electrolyte layer) capacitance, and W the Warburg diffusion impedance.
Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR)
FTIR spectra were recorded on a Nicolet 380 FTIR spectrometer (Thermo Electron Corporation, USA). The samples were mixed with KBr and then compressed into pellets for analysis in the spectral range of ν̃ = 4000 to 500 cm−1. All baselines of the spectra were corrected.
Raman spectroscopy
Raman spectra were performed on a Renishaw InVia Reflex Raman system (Renishaw plc, Wotton-under-Edge, UK) that employs a grating spectrometer with a Peltier-cooled charge-coupled device (CCD) detector coupled to a confocal microscope, which were then processed with Renishaw WiRE 3.2 software. The Raman scattering was excited by an argon ion laser (I = 514.5 nm).
รูปที่ 4 รูปแบบวงจรที่ใช้เพื่อให้พอดีกับ ไนควิสต์แปลง อาร์เอสเป็นต้านทานตัวทำละลาย , RF ต้านทานฟิล์ม , Razorflame ความต้านทานโอนค่าธรรมเนียม cpe1the ภาพยนตร์ความจุ cpe2 , ชั้นคู่ ( การทำงานและชั้นอิเล็กโทรไลต์ ) ความจุและจำนวนแดนซ์กระจาย w .
ฟูเรียร์ทรานฟอร์มอินฟราเรดสเปกโทรสโกปี ( FTIR )
FTIR spectra ที่ถูกบันทึกไว้ใน nicolet 380 ( Spectrometer ( อิเล็กตรอนร้อน Corporation , USA ) ตัวอย่างที่ผสมกับ KBR และจากนั้นบีบอัดเป็นเม็ดเพื่อการวิเคราะห์ในช่วงสเปกตรัมของν̃ = 4 , 500 cm − 1 ทุกเส้นของสเปกตรัมรามันสเปกโทรสโกปี
( แก้ไข สเปกตรัมรามันจำนวนเป็น 10 invia สะท้อนรามันระบบ ( 10 ) วอตเติ้นใต้ขอบ UK) that employs a grating spectrometer with a Peltier-cooled charge-coupled device (CCD) detector coupled to a confocal microscope, which were then processed with Renishaw WiRE 3.2 software. The Raman scattering was excited by an argon ion laser (I = 514.5 nm).
การแปล กรุณารอสักครู่..