Secondary ion mass spectrometry (SI

Secondary ion mass spectrometry (SIMS) is based on the observation that charged particles
(Secondary Ions) are ejected from a sample surface when bombarded by a primary beam of heavy
particles.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รองไอออนโตรเมทรี (ซิมส์) ตามสังเกตที่เรียกเก็บอนุภาค(รองประจุ) ที่ออกจากพื้นผิวตัวอย่างเมื่อถูก bombarded โดยคานหลักของหนักอนุภาค

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มวลสารไอออนรอง (SIMS) จะขึ้นอยู่กับการสังเกตว่าอนุภาคที่มีประจุ
(Secondary ไอออน) จะถูกขับออกมาจากพื้นผิวของตัวอย่างเมื่อจู่โจมโดยคานหลักของหนัก
อนุภาค

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รองไอออนมวลสาร ( ซิมส์ ) จะขึ้นอยู่กับการสังเกตว่าประจุ
( ไอออนทุติยภูมิ ) พุ่งออกจากตัวอย่างพื้นผิวเมื่อ bombarded โดยคานหลักของอนุภาคหนัก