The morphology of samples was obser

The morphology of samples was observed using scanning elec- tron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สัณฐานวิทยาของตัวอย่างที่ถูกตรวจสอบโดยใช้การสแกน elec-ตำบล microscopy (SEM) และ microscopy แรงอะตอม (AFM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สัณฐานวิทยาของกลุ่มตัวอย่างที่เป็นที่สังเกตโดยใช้การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิตรอน (SEM) และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สัณฐานวิทยาของตัวอย่างที่พบด้วยกล้องจุลทรรศน์กล้องจุลทรรศน์ ELEC - ทรอน ( SEM ) และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM )