Atomic force microscopy (AFM) -a ve

Atomic force microscopy (AFM) -a very high-resolution type of scanning probe microscopy, with demonstrated resolution on the order of fractions of a nanometer, more than 1000 times better than the optical diffraction limit.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

แรงอะตอม microscopy (AFM) - ความละเอียดสูงมากชนิดของการสแกนโพรบ microscopy กับแสดงความละเอียดขั้นเศษ nanometer มากกว่า 1000 ครั้งดีกว่าขีดจำกัดของการเลี้ยวเบนของแสง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) -a มากชนิดความละเอียดสูงของการสแกนสอบสวนกล้องจุลทรรศน์ที่มีความละเอียดแสดงให้เห็นถึงคำสั่งของเศษส่วนของนาโนเมตร, มากกว่า 1000 ครั้งดีกว่าขีด จำกัด การเลี้ยวเบนแสง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) - ความละเอียดสูงมาก ประเภทของการสแกนกล้องจุลทรรศน์สอบสวน พร้อมแสดงความละเอียดในการสั่งซื้อของเศษส่วนของนาโนมากกว่าดีกว่าแสงการเลี้ยวเบนจำกัด

1000 ครั้ง