In conclusion, in-situ microfocused

In conclusion,
in-situ microfocused X-ray diffraction experiments on PZT thin films were conducted as a function of the applied electric field rendering possible both the direct measurement of the piezoelectric strain induced by the electric

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในสรุป ดำเนินการทดลองการเลี้ยวเบน X-ray microfocused ในพื้นที่บนฟิล์มบาง PZT เป็นฟังก์ชันของฟิลด์ที่ใช้ไฟฟ้าที่แสดงผลได้ทั้งการวัดโดยตรงของความเครียดไฟฟ้าที่เหนี่ยวนำ โดยการไฟฟ้า

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โดยสรุป
ในแหล่งกำเนิด microfocused ทดลองการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ในภาพยนตร์บาง PZT ได้ดำเนินการเป็นหน้าที่ของสนามไฟฟ้าที่ใช้การแสดงผลที่เป็นไปได้ทั้งการวัดโดยตรงของความเครียด piezoelectric เหนี่ยวนำโดยไฟฟ้า

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สรุปควบคู่ microfocused การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์การทดลองฟิล์ม PZT ได้ดำเนินการเป็นฟังก์ชันของการประยุกต์ใช้สนามไฟฟ้าทั้งตรงวัดเพียโซอิความเครียดที่เกิดจากไฟฟ้าที่เป็นไปได้