SEM was used to observe the cross-s

SEM was used to observe the cross-sectional morphology of the plasticized PLA films at an accelerationvoltage of 20 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ใช้ SEM สังเกตสัณฐานวิทยาเหลวของฟิล์ม PLA plasticized ที่มี accelerationvoltage 20 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

SEM ถูกใช้ในการสังเกตลักษณะทางสัณฐานวิทยาตัดขวางของฟิล์มพลาสติก PLA ที่ accelerationvoltage 20 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ซึ่งถูกใช้เพื่อสังเกตรูปร่างภาคตัดขวางของฟิล์มที่ accelerationvoltage plasticized ปลา 20 KV .