A scanning electron microscope (SEM

A scanning electron microscope (SEM) is a type of electron microscope that produces images of a sample by scanning it with a focused beam of electrons. The electrons interact with atoms in the sample, producing various signals that can be detected and that contain information about the sample's surface topography and composition. The electron beam is generally scanned in a raster scan pattern, and the beam's position is combined with the detected signal to produce an image. SEM can achieve resolution better than 1 nanometer. Specimens can be observed in high vacuum, in low vacuum, in wet conditions (in environmental SEM), and at a wide range of cryogenic or elevated temperatures.

The most common SEM mode is detection of secondary electrons emitted by atoms excited by the electron beam. The number of secondary electrons depends on the angle at which beam meets surface of specimen,[citation needed] i.e. on specimen topography. By scanning the sample and collecting the secondary electrons with a special detector, an image displaying the topography of the surface is created.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเป็นการสแกน (SEM) เป็นชนิดของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่สร้างภาพของตัวอย่าง โดยการสแกนด้วยแสงโฟกัสของอิเล็กตรอน อิเล็กตรอนโต้ตอบกับอะตอมในตัวอย่าง การผลิตสัญญาณต่าง ๆ ที่สามารถตรวจพบ และที่ประกอบด้วยข้อมูลเกี่ยวกับตัวอย่างพื้นผิวภูมิประเทศและองค์ประกอบ โดยทั่วไปมีสแกนลำแสงอิเล็กตรอนในรูปแบบการสแกนแบบราสเตอร์ และตำแหน่งของคานร่วมกับตรวจพบสัญญาณเพื่อสร้างภาพ SEM สามารถบรรลุความละเอียดดีกว่า 1 nanometer ไว้เป็นตัวอย่างจะสังเกตได้จากในสุญญากาศสูง ในสุญญากาศต่ำ ในสภาพเปียก (ในสิ่งแวดล้อม SEM), และ ที่อุณหภูมิสูง หรือ cryogenic ที่หลากหลายได้วิธี SEM มากที่สุดเป็นของอิเล็กตรอนรองออกมาจากอะตอมตื่นเต้น โดยลำแสงอิเล็กตรอน จำนวนอิเล็กตรอนรองขึ้นอยู่กับมุมที่ผิวตรงที่แสงของตัวอย่าง, [ต้องการอ้างอิง] เช่นในสิ่งส่งตรวจภูมิประเทศ โดยสแกนตัวอย่าง และรวบรวมอิเล็กตรอนรองกับเครื่องตรวจจับพิเศษ มีสร้างรูปภาพแสดงภูมิประเทศของพื้นผิว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) เป็นชนิดของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ผลิตภาพตัวอย่างโดยการสแกนด้วยลำแสงเน้นอิเล็กตรอน อิเล็กตรอนโต้ตอบกับอะตอมในตัวอย่างการผลิตสัญญาณต่างๆที่สามารถตรวจพบและที่มีข้อมูลเกี่ยวกับพื้นผิวภูมิประเทศตัวอย่างและองค์ประกอบ ลำแสงอิเล็กตรอนจะถูกสแกนโดยทั่วไปในรูปแบบแรสเตอร์สแกนและตำแหน่งของลำแสงที่เป็นบวกกับสัญญาณที่ตรวจพบในการผลิตภาพ SEM สามารถบรรลุความละเอียดดีกว่า 1 นาโนเมตร ตัวอย่างที่สามารถสังเกตได้ในสูญญากาศสูงในสูญญากาศต่ำในสภาพเปียก (ในสิ่งแวดล้อม SEM) และในช่วงกว้างของอุณหภูมิแช่แข็งหรือสูง. โหมด SEM พบมากที่สุดคือการตรวจสอบของอิเล็กตรอนปล่อยออกมาจากอะตอมตื่นเต้นโดยลำแสงอิเล็กตรอน . จำนวนของอิเล็กตรอนที่สองขึ้นอยู่กับมุมที่ตรงกับคานพื้นผิวของชิ้นงาน, [อ้างจำเป็น] เช่นในภูมิประเทศตัวอย่าง โดยการสแกนตัวอย่างและเก็บอิเล็กตรอนรองกับเครื่องตรวจจับพิเศษภาพแสดงลักษณะทางกายภาพของพื้นผิวที่ถูกสร้างขึ้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) เป็นชนิดของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ผลิตภาพตัวอย่างโดยการสแกนกับโฟกัสลำแสงอิเล็กตรอน อิเล็กตรอนโต้ตอบกับอะตอมที่ใช้ในการผลิตสัญญาณต่าง ๆ ที่สามารถตรวจพบ และมีข้อมูลเกี่ยวกับตัวอย่างพื้นผิวภูมิประเทศและองค์ประกอบที่ อิเล็กตรอนลำแสงทั่วไปสแกนภาพสแกนลายและตำแหน่งของแสงรวมกับที่ตรวจพบสัญญาณในการผลิตภาพ SEM สามารถให้ความละเอียดที่ดีกว่า 1 นาโนเมตร . ชิ้นงานที่สามารถสังเกตได้ในสุญญากาศในสุญญากาศต่ำ ในสภาวะเปียก ( ใน SEM สิ่งแวดล้อม ) และในช่วงกว้างของอุณหภูมิสูงหรืออุณหภูมิ .

โหมดนี้กันมากที่สุด คือ การตรวจหาระดับของอิเล็กตรอนที่ออกมาจากอะตอมตื่นเต้นโดยลำแสงอิเล็กตรอน . จำนวนอิเล็กตรอนทุติยภูมิขึ้นอยู่กับมุมที่แสงกับพื้นผิวของชิ้นงาน [ อ้างอิงที่จำเป็น ] เช่นในตัวอย่าง ลักษณะภูมิประเทศ โดยการสแกนตัวอย่างและการเก็บรวบรวมอิเล็กตรอนทุติยภูมิด้วยเครื่องพิเศษ , ภาพแสดงลักษณะของพื้นผิวที่สร้างขึ้น