Another set of stem samples were ex

Another set of stem samples were examined with a scanning electron microscope (SEM). The samples were placed on the double side carbon tape on an aluminum stub. The specimens were examined without coating by a field emission SEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ชุดอื่นอย่างก้านถูกตรวจสอบ ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน (SEM) ตัวอย่างถูกวางไว้บนเทปคาร์บอนคู่ด้านบนเป็นขั้วอลูมิเนียม ไว้เป็นตัวอย่างถูกตรวจสอบโดยไม่เคลือบ ด้วยมลพิษฟิลด์ SEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ชุดของตัวอย่างต้นกำเนิดอีกถูกตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) กลุ่มตัวอย่างที่ถูกวางไว้บนด้านคู่เทปคาร์บอนบนต้นขั้วอลูมิเนียม ตัวอย่างที่มีการตรวจสอบโดยไม่ต้องเคลือบโดยการปล่อยสนาม SEM