However, the following additional i

However, the following additional information may prove helpful in understanding the root cause of this
component's failure:

Virgin components (200-piece sample recommended from same lot number ) that will allow KEMET to
perform reliability tests on components prior to customer application .

IR Reflow solder profile, or (peak) temperature/time conditions/profile of any other mounting process,
such as wave, vapor phase, etc.

Circuit information such as the schematics, applied voltage, current, ripple current and failure point
during testing.

Oscilloscope traces at each of the failure locations in the circuit to understand the conditions the
capacitors were exposed to. Focus of the trace would be on over voltage (surge), reverse bias and
ripple current during power up, power off and steady state (under load and unload conditions).
Please return any additional components, process, or application information to [e-mail]
and c.c. [e-mail]
Based on a complete review of batch process records and tollgate performance, KEMET is unable to
identify any non-conformance of this part as warranted. The product shipped met all KEMET catalogue
requirements and specifications as ordered.
Corrective Action : Corrective Action :
KEMET's analysis of the returned component did not reveal a manufacturing defect. The internal
construction was found to be typical with no abnormalities found . The reported failure description
indicates that the failure was the result of electrical stress on the dielectric . Corrective action was not
possible at this time.
Prevent Recurrence : Prevent Recurrence :
KEMET is committed to working with Sanmina-SCI Corp to resolve this concern to your satisfaction. If we
can be of any further assistance or if you have any questions concerning the content of this report , please
contact us via phone, fax, or e-mail (listed on page 1).
This report is Business Confidential between KEMET Electronics Corporation and the company named This report is Business Confidential between KEMET Electronics Corporation and the company named
herein.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

อย่างไรก็ตาม ข้อมูลเพิ่มเติมต่อไปนี้อาจพิสูจน์ประโยชน์เข้าใจสาเหตุรากนี้ความล้มเหลวของส่วนประกอบ:ส่วนประกอบสกัดเย็น (200 ชิ้นอย่างที่แนะนำจากหมายเลขล็อตเดียวกัน) ที่จะช่วยให้ KEMET เพื่อทำการทดสอบความน่าเชื่อถือในคอมโพเนนต์ก่อนลูกค้าแอพลิเคชันIR Reflow ประสานโปรไฟล์ หรือ (ค) อุณหภูมิ/เวลา/โปรไฟล์เงื่อนไขใด ๆ อื่น ๆ ติดตั้งกระบวนการคลื่น ไอระยะ ฯลฯข้อมูลวงจร schematics ใช้แรงดันไฟฟ้า กระแส กระแสระลอกคลื่นและจุดล้มเหลวในระหว่างการทดสอบร่องรอยของ oscilloscope ที่แต่ละที่ตั้งความล้มเหลวในวงจรเพื่อเข้าใจเงื่อนไขตัวเก็บประจุได้สัมผัสกับ ความสำคัญของการติดตามจะได้ผ่านแรงดันไฟฟ้า (กระแส), ความโน้มเอียงย้อนกลับ และระลอกคลื่นปัจจุบันระหว่างกำลังขึ้น ปิดไฟ และท่อน (ภายใต้โหลด และปลดปล่อยเงื่อนไข)กรุณากลับส่วนประกอบเพิ่มเติม กระบวนการ หรือแอพลิเคชันข้อมูลใด ๆ ไปยัง [e-mail]และ c.c. [e-mail]ตามการตรวจทานที่สมบูรณ์ของชุดระเบียนกระบวนการและประสิทธิภาพการทำงานของ tollgate, KEMET ไม่สามารถระบุใด ๆ ไม่สอดคล้องของ part นี้เป็น warranted ผลิตภัณฑ์จัดส่งตรงตามแคตตาล็อก KEMET ทั้งหมดความต้องการและข้อกำหนดคำสั่งการแก้ไข: แก้ไขการดำเนินการ:วิเคราะห์ของ KEMET ประกอบคืนไม่ได้เปิดเผยความบกพร่องการผลิต การภายในก่อสร้างที่พบอยู่ทั่วไปกับความผิดปกติไม่พบ คำอธิบายรายงานความล้มเหลวบ่งชี้ว่า ความล้มเหลวเป็นผลของความเครียดไฟฟ้าใน dielectric ไม่มีการดำเนินการแก้ไขสุดในขณะนี้ป้องกันการเกิดซ้ำ: ป้องกันการเกิดซ้ำ:KEMET มุ่งมั่นในการทำงานกับวิทยาศาสตร์วิศวกรรม Sanmina Corp เพื่อแก้ไขปัญหานี้ความพึงพอใจของคุณ ถ้าเราสามารถของความช่วยเหลือใด ๆ เพิ่มเติม หรือหากคุณมีคำถามใด ๆ เกี่ยวกับเนื้อหาของรายงานนี้ กรุณาติดต่อทางโทรศัพท์ แฟกซ์ หรืออีเมล์ (อยู่ในหน้า 1)รายงานนี้จะลับธุรกิจระหว่าง บริษัท KEMET อิเล็กทรอนิกส์และบริษัทที่มีชื่อว่ารายงานนี้เป็นธุรกิจเป็นความลับระหว่าง KEMET อิเล็กทรอนิคส์ คอร์ปอเรชั่นและบริษัทที่มีชื่อว่านี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

อย่างไรก็ตามข้อมูลเพิ่มเติมต่อไปนี้อาจพิสูจน์เป็นประโยชน์ในการทำความเข้าใจสาเหตุของเรื่องนี้
ล้มเหลวส่วนของ:
? ส่วนประกอบเวอร์จิน (ตัวอย่าง 200 ชิ้นแนะนำจากจำนวนมากเหมือนกัน) ที่จะช่วยให้ KEMET จะ
ดำเนินการทดสอบความน่าเชื่อถือในส่วนก่อนการใช้งานของลูกค้า.
? IR Reflow ประสานรายละเอียดหรือ (สูงสุด) อุณหภูมิที่ / เวลาเงื่อนไข / รายละเอียดของขั้นตอนการติดตั้งอื่น ๆ
เช่นคลื่นเฟสไอ ฯลฯ
? ข้อมูลวงจรเช่นแผนงานแรงดันไฟฟ้าที่ใช้ในปัจจุบันจุดปัจจุบันและความล้มเหลวระลอก
ในระหว่างการทดสอบ.
? Oscilloscope ร่องรอยในแต่ละสถานที่ล้มเหลวในวงจรที่จะเข้าใจสภาพ
ตัวเก็บประจุได้สัมผัสกับ จุดเน้นของการติดตามจะเป็นมากกว่าแรงดันไฟฟ้า (คลื่น) อคติย้อนกลับและ
ปัจจุบันระลอกในช่วงกำลังขึ้นปิดและความมั่นคงของรัฐ (ภายใต้การโหลดและขนเงื่อนไข).
กรุณาส่งชิ้นส่วนใด ๆ เพิ่มเติมกระบวนการหรือข้อมูลการสมัครเพื่อ adolfodiaz @ kemet .com
และซีซี [e-mail]
จากความคิดเห็นที่สมบูรณ์ของการบันทึกกระบวนการ batch และประสิทธิภาพการทำงานขนอน, KEMET ไม่สามารถที่จะ
ระบุใด ๆ ที่ไม่ปฏิบัติตามในส่วนนี้เป็นประกัน สินค้าที่ส่งมอบได้พบกับแคตตาล็อกทั้งหมด KEMET
ความต้องการและข้อกำหนดตามคำสั่ง.
ดำเนินการแก้ไข: การแก้ไขปัญหา:
การวิเคราะห์ KEMET ขององค์ประกอบกลับไม่ได้เปิดเผยข้อบกพร่องการผลิต ภายใน
การก่อสร้างพบว่ามีความผิดปกติทั่วไปที่มีไม่พบ คำอธิบายความล้มเหลวในรายงาน
ระบุว่าความล้มเหลวเป็นผลมาจากความเครียดเกี่ยวกับไฟฟ้าอิเล็กทริก การดำเนินการแก้ไขก็ไม่ได้
เป็นไปได้ในเวลานี้.
ป้องกันการเกิดซ้ำ: ป้องกันการเกิดซ้ำ:
KEMET มีความมุ่งมั่นที่จะทำงานกับ Sanmina-SCI คอร์ปที่จะแก้ปัญหาความกังวลเกี่ยวกับความพึงพอใจของคุณ ถ้าเรา
สามารถจะให้ความช่วยเหลือเพิ่มเติมใด ๆ หรือถ้าคุณมีคำถามใด ๆ เกี่ยวกับเนื้อหาของรายงานฉบับนี้กรุณา
ติดต่อเราผ่านทางโทรศัพท์โทรสารหรือ e-mail (ที่ระบุไว้บนหน้า 1).
รายงานนี้เป็นธุรกิจที่เป็นความลับระหว่าง KEMET Electronics Corporation และ บริษัท ชื่อรายงานนี้เป็นธุรกิจที่เป็นความลับระหว่าง KEMET Electronics Corporation และ บริษัท ที่มีชื่อ
ในเอกสารฉบับนี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

อย่างไรก็ตาม ข้อมูลต่อไปนี้เพิ่มเติมอาจพิสูจน์เป็นประโยชน์ในการทำความเข้าใจสาเหตุของความล้มเหลว :

ส่วน
บริสุทธิ์ส่วนประกอบ ( 200 ชิ้นตัวอย่างแนะนำจากจํานวนมากเหมือนกัน ) ซึ่งจะช่วยให้ Kemet

แสดงการทดสอบส่วนประกอบก่อนโปรแกรมลูกค้า .

reflow ประสานและโปรไฟล์ หรือ ( ยอด ) อุณหภูมิ เงื่อนไข / รายละเอียดของเวลาใด ๆอื่น ๆที่ติดตั้งกระบวนการ
เช่นคลื่นไอเฟส ฯลฯ

วงจรข้อมูล เช่น แผนผัง ใช้แรงดัน , กระแสระลอกปัจจุบันและความล้มเหลวในการทดสอบจุด
.

oscilloscope ร่องรอยในแต่ละความล้มเหลวของสถานที่ใน วงจรการเข้าใจเงื่อนไข
capacitors ถูกเปิดเผย ความสำคัญของการติดตามจะได้แรงดันเกิน ( surge ) กลับทำให้มีความลำเอียงและ
ระลอกปัจจุบันระหว่างพลังงานปิดไฟและมั่นคงของรัฐ ( ภายใต้เงื่อนไขการโหลดและยกเลิกการโหลด ) .
เอาส่วนประกอบเพิ่มเติมใด ๆ กระบวนการ หรือการประยุกต์สารสนเทศเพื่อ adolfodiaz @ Kemet ดอทคอม และ ซีซี noraolazaran
@ Kemet . com
ตามความคิดเห็นที่สมบูรณ์ของบันทึกชุดประมวลผลและประสิทธิภาพด่าน Kemet , ไม่สามารถระบุไม่สอดคล้องใด ๆของส่วน
นี้เป็นประกัน สินค้าจัดส่งแคตตาล็อก
พบทั้งหมดเคเม็ทข้อกําหนดและความต้องการตามคำสั่ง การแก้ไข : การแก้ไข :

การวิเคราะห์ Kemet ของคืนส่วนประกอบไม่ได้เปิดเผยการผลิตของเสีย การก่อสร้างภายใน
อยู่ทั่วไปที่ไม่มีอาการผิดปกติที่พบ รายงาน
รายละเอียดความล้มเหลวระบุว่า ความล้มเหลว คือ ผลของความเครียดต่อสมบัติไดอิเล็กทริกไฟฟ้า . การแก้ไขไม่ได้
ที่สุดในเวลานี้ การ ป้องกัน การ ป้องกัน :
:
Kemet มุ่งมั่นที่จะทำงานกับ sanmina วิทย์คอร์ป เพื่อแก้ไขปัญหานี้ เพื่อความพึงพอใจของคุณ ถ้าเรา
สามารถของความช่วยเหลือเพิ่มเติมใด ๆหรือถ้าคุณมีคำถามใด ๆเกี่ยวกับเนื้อหาของรายงานฉบับนี้ ได้โปรด
ติดต่อเราผ่านทางโทรศัพท์โทรสารหรือ e - mail ( ที่ระบุไว้ในหน้า 1
)รายงานนี้เป็นธุรกิจที่เป็นความลับระหว่าง Kemet Corporation อิเล็กทรอนิกส์และ บริษัท ที่มีชื่อนี้รายงานลับทางธุรกิจระหว่าง บริษัท อิเล็กทรอนิกส์และ บริษัท ที่มีชื่อ Kemet
ในที่นี้