Testing embedded building blocks is

Testing embedded building blocks is much more
difficult than testing their stand-alone counterparts, and
Experience gained from the development of digital
circuits invites us to move towards structural or faultdriven
test methods and explore Built-In Self-Test
(BIST) alternatives as well. Regarding emergent
analog structural test solutions, Oscillation-Based Test
(OBT) is worth attention since it is conceptually
simple, does not require strong circuit modifications
and can handle BIST without the penalty of dedicated,
additional on-chip signal generation hardware. OBT is
essentially a defect-driven test approach, and has been
successfully applied to some significant examples like
biquad filters, and some basic data converter circuits
[11-[61.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ทดสอบประกอบฝังตัวเป็นอย่างมากยากลำบากกว่าการทดสอบคู่เดี่ยวของพวกเขา และประสบการณ์ที่ได้รับจากการพัฒนาของดิจิตอลวงจรเชิญเราเข้าสู่โครงสร้างหรือ faultdrivenวิธีทดสอบ และสำรวจในตัวทดสอบ(BIST) แทนเช่น โผล่ออกมาเกี่ยวข้องโซลูชั่นทดสอบโครงสร้างแบบแอนะล็อก ทดสอบการสั่น(OBT) เที่ยวให้ความสนใจเนื่องจากเป็นทางแนวคิดง่าย ไม่ต้องแก้ไขวงจรที่แข็งแรงและสามารถจัดการ BIST โดยโทษของเฉพาะสัญญาณบนชิพเพิ่มเติมสร้างฮาร์ดแวร์ OBT คือหลักการข้อบกพร่องควบคุมทดสอบวิธี และได้รับนำไปใช้กับตัวอย่างที่สำคัญเช่นตัวกรอง biquad และวงจรแปลงข้อมูลพื้นฐานบางอย่าง[11- [61

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การทดสอบหน่วยการสร้างที่ฝังตัวเป็นมากขึ้นยากกว่าการทดสอบคู่ยืนอยู่คนเดียวของพวกเขาและประสบการณ์ที่ได้รับจากการพัฒนาของดิจิตอลวงจรเชิญเราจะย้ายไปหรือโครงสร้างfaultdriven วิธีการทดสอบและสำรวจในตัวทดสอบตัวเอง(BIST) ทางเลือกเช่นกัน เกี่ยวกับการโผล่ออกมาแบบอะนาล็อกโซลูชั่นการทดสอบโครงสร้างความผันผวนตามการทดสอบ(OBT) เป็นมูลค่าความสนใจเพราะมันเป็นแนวคิดที่เรียบง่ายไม่จำเป็นต้องมีการปรับเปลี่ยนวงจรที่แข็งแกร่งและสามารถจัดการกับBIST โดยไม่มีการลงโทษของการอุทิศตนที่เพิ่มเติมสัญญาณบนชิปฮาร์ดแวร์รุ่น OBT เป็นหลักวิธีการทดสอบข้อบกพร่องที่ขับเคลื่อนด้วยและได้รับการใช้ประสบความสำเร็จในการเป็นตัวอย่างบางส่วนที่สำคัญเช่นกรองbiquad และบางวงจรแปลงข้อมูลพื้นฐาน[11 [61

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ทดสอบการสร้างบล็อกฝังตัวเป็นมากขึ้นยากกว่า counterparts ของพวกเขาทดสอบ

เดี่ยว และประสบการณ์ที่ได้รับจากการพัฒนาวงจรดิจิตอล
ชวนเราย้ายต่อโครงสร้าง หรือ faultdriven
วิธีการทดสอบและสำรวจที่สร้างขึ้นใน
ทดสอบตนเองทางทางเลือกเช่นกัน เรื่องฉุกเฉิน
อนาล็อกโครงสร้างการทดสอบโซลูชั่น คาบ
ทดสอบตาม( CBT ) มีมูลค่าความสนใจเนื่องจากเป็นแนวคิด
ง่ายๆไม่ต้องใช้แรงและสามารถจัดการวงจรการปรับเปลี่ยน
bist โดยไม่โทษทุ่มเท
เพิ่มเติมบนสัญญาณรุ่นฮาร์ดแวร์ เกมส์เป็นหลักขับเคลื่อนแบบทดสอบข้อบกพร่อง

ใช้เรียบร้อยแล้ว และได้รับบางตัวอย่างที่สำคัญเช่นกรอง
สร้างขึ้น และบางแปลงข้อมูลพื้นฐานวงจร
[ 11 - [ 61