Surface composition and graphene th

Surface composition and graphene thicknesses were determined from core-level photoelectron spectroscopy by means of a Specs PHOIBOS150 analyser in combination with a monochromatized Al Kα source with an energy resolution of∼350 meV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

องค์ประกอบและ graphene ความหนาพื้นผิวถูกกำหนดจากหลักระดับ photoelectron ก โดย analyser PHOIBOS150 รายละเอียดร่วมกับแหล่ง Al Kα monochromatized กับการพลังงานละเอียด of∼350 meV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

องค์ประกอบของพื้นผิวและความหนากราฟีนได้รับการพิจารณาจากสเปคโทรโฟโตอิเล็กตรอนหลักระดับโดยใช้วิธีการวิเคราะห์รายละเอียด PHOIBOS150 ร่วมกับแหล่งที่มาของอัล monochromatized Kαที่มีความละเอียดพลังงาน of~350 meV

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

องค์ประกอบของกราฟีนความหนาและพื้นผิวถูกกำหนดจากระดับแกน photoelectron spectroscopy โดยวิธีการของรายละเอียด phoibos150 วิเคราะห์รวมกับ monochromatized อัลเคαที่มากับแรงความละเอียดของ∼ 350 อิเล็กตรอนโวลต์