The probability of events I4-I6 can

The probability of events I4-I6 can be estimated if the probabilities
of the ICT failures at the substation are available. These
can be obtained directly from the component manufacturers or
from field or test data. Fig. 19 shows the fault tree of the events
leading to missing information from the process level (I4),
which can occur in case of failure of any of the IEDs or MUs.
It can be seen that AND gates are used to illustrate redundancy,

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สามารถประเมินความน่าเป็นของเหตุการณ์ I4-I6 ถ้ากิจกรรมที่ของ ICT ล้มเหลวที่ยังมีอยู่ เหล่านี้สามารถได้รับโดยตรงจากผู้ผลิตส่วนประกอบ หรือจากฟิลด์หรือการทดสอบข้อมูล Fig. 19 แสดงแผนภูมิบกพร่องของเหตุการณ์นำไปสู่ข้อมูลที่หายไปจากระดับกระบวนการ (I4),ซึ่งสามารถเกิดขึ้นได้ในกรณีของความล้มเหลวใด ๆ ของวัตถุหรือบรรยากาศเป็นกันจะเห็นได้ที่ประตูและใช้แสดงซ้ำ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความน่าจะเป็นของเหตุการณ์ I4-I6 สามารถประมาณได้ถ้าความน่าจะเป็น
ของความล้มเหลวด้านไอซีทีที่สถานีย่อยที่มีอยู่ เหล่านี้
จะได้รับโดยตรงจากผู้ผลิตชิ้นส่วนหรือ
จากสนามหรือข้อมูลการทดสอบ มะเดื่อ 19 แสดงให้เห็นถึงความผิดของต้นไม้ของเหตุการณ์
ที่นำไปสู่ข้อมูลที่หายไปจากระดับกระบวนการ (I4)
ซึ่งสามารถเกิดขึ้นได้ในกรณีของความล้มเหลวใด ๆ ของ IEDs หรือ Mus.
จะเห็นได้ว่าและประตูที่ใช้ในการแสดงให้เห็นถึงความซ้ำซ้อน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความน่าจะเป็นของเหตุการณ์ สามารถประเมิน i4-i6 ถ้าความน่าจะเป็น
ของ ICT ความล้มเหลวที่สถานีที่มีอยู่ เหล่านี้
สามารถได้รับโดยตรงจากผู้ผลิตชิ้นส่วนหรือ
จากเขตข้อมูลหรือข้อมูลทดสอบ รูปที่ 19 แสดงความผิดของต้นไม้ของเหตุการณ์
ชั้นนําข้อมูลที่หายไปจากระดับกระบวนการ ( ไอโฟร์ )
ซึ่งสามารถเกิดขึ้นได้ในกรณีของความล้มเหลวของ IEDs หรือมุส .
จะเห็นได้ว่ามีการใช้เพื่อแสดงให้เห็นถึงความซ้ำซ้อนและประตู ,