Structural techniques, including Fo

Structural techniques, including Fourier transform infrared
spectroscopy (FTIR), micro-Raman spectroscopy, transmission electron microscopy (TEM),
X-ray diffraction (XRD), and Secondary ion mass spectroscopy (SIM) were employed to
gather structural information about the SiQD/SiO2
SLs.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เทคนิคโครงสร้างรวมทั้งการแปลงฟูริเยอินฟราเรด
เปคโทรส (FTIR) สเปคโทรไมโคร raman, กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (Tem)
x-เรย์เลนส์ (XRD) และรองสเปคโทรมวลไอออน (ซิม) ที่ถูกว่าจ้างให้
รวบรวมข้อมูลเกี่ยวกับโครงสร้าง siqd/sio2
SLS

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โครงสร้างเทคนิค ฟูรีเยแปลงอินฟราเรด
ก (FTIR) ไมโครรามันก ส่งอิเล็กตรอน microscopy (ยการ),
เอกซเรย์การเลี้ยวเบน (XRD), และมัธยมไอออนมวลก (SIM) ถูกว่าจ้างไป
รวบรวมข้อมูลโครงสร้างเกี่ยวกับ SiQD/SiO2
SLs

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เทคนิคโครงสร้างรวมถึงฟุรเย - เปลี่ยนแปลงอินฟราเรด
Emission Spectroscopy (บางชนิดและ) Micro - รามัน Emission Spectroscopy การส่งข้อมูลการตรวจวิเคราะห์สารเคมีอิเลคตรอน((ประธาน)ชั่วคราว)
X - ray พร่าเลือนของ( xrd )และไอออนรองมวลชน Emission Spectroscopy ( SIM )ถูกว่าจ้างเพื่อ
รวบรวมข้อมูลโครงสร้างเกี่ยวกับ siqd SLS ./ SIO 2
ได้