A DMM was preferred over, for examp

A DMM was preferred over, for example, a Si(111) monochromator, typically used for powder diffraction at synchrotron beamlines, because of its higher transmittance. The reduced 2θ resolution in the XRD data, which is the consequence of the lower energy resolution of the DMM relative to that of a double crystal monochromator (DCM), proved to be sufficient for the measurements performed in this study. After the energy selection, the 30-keV beam was focused on the paint multilayer fragment by means of an elliptical single-bounce capillary to a spot size of 15μm. A MarCCD area detector (2 k × 2 k, 80 μm pixel size) was positioned behind the sample, acquiring two-dimensional diffraction patterns. Additionally, a silicon drift detector, positioned at 90◦ with respect to the incoming beam, allowed the simultaneous registration of fluorescence spectra, thereby combining XRF tomography (element distributions in a virtual cross section) and XRD tomography (crystallographic phase distributions). Figure 2 summarizes the combined μ-XRF/XRD tomography setup as well as the pattern decomposition method explained earlier.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

DMM ถูกต้องมากกว่า ตัวอย่าง การ Si(111) monochromator โดยปกติใช้สำหรับการเลี้ยวเบนของผงที่ synchrotron beamlines เพราะ transmittance ที่สูงกว่า ความละเอียด 2θ ลดข้อมูล XRD ซึ่งเป็นผลมาจากการแก้ปัญหาพลังงานต่ำของ DMM สัมพันธ์ของ monochromator คริสตัลคู่ (DCM), พิสูจน์ให้เพียงพอสำหรับการประเมินที่ดำเนินการในการศึกษานี้ หลังจากเลือกพลังงาน แสง 30 keV ที่เน้นส่วนหลายชั้นสี โดยมีแรงเดียวเด้งรีขนาดจุดของ 15μm ตรวจการตั้ง MarCCD (2 k k × 2, 80 μm ขนาดพิกเซล) ที่วางอยู่เบื้องหลังตัวอย่าง ได้รับรูปแบบการเลี้ยวเบนแบบสองมิติ นอกจากนี้ เครื่องตรวจจับดริฟท์ซิลิคอน ตำแหน่งที่ 90◦ กับคานขาเข้า อนุญาตให้ลงทะเบียนพร้อมแรมสเป็คตรา fluorescence รวม XRF คอมพิวเตอร์ (องค์ประกอบการกระจายในส่วนข้ามเสมือน) และ XRD คอมพิวเตอร์ (crystallographic ระยะกระจาย) รูปที่ 2 สรุปการตั้งค่าคอมพิวเตอร์μ-XRF/XRD รวมเป็นวิธีแยกส่วนประกอบรูปแบบที่อธิบายไว้ก่อนหน้านี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

DMM เป็นที่นิยมมากกว่าตัวอย่างสำหรับ, ศรี (111) monochromator, ใช้โดยทั่วไปสำหรับการเลี้ยวเบนผงที่ beamlines ซินโครเพราะการส่งผ่านสูงขึ้น ความละเอียดลดลง2θในข้อมูล XRD ซึ่งเป็นผลมาจากความละเอียดของการใช้พลังงานที่ลดลงของญาติ DMM กับที่ monochromator คริสตัลคู่ (DCM) พิสูจน์ให้เห็นว่าจะเพียงพอสำหรับการตรวจวัดการดำเนินการในการศึกษาครั้งนี้ หลังจากที่เลือกพลังงานลำแสง 30 เคฟได้รับการมุ่งเน้นไปที่ส่วนหลายสีโดยวิธีการของเส้นเลือดฝอยเดียวตีกลับเป็นรูปวงรีขนาดจุด15μm เครื่องตรวจจับพื้นที่ MarCCD (2 × 2 k k, 80 ไมครอนขนาด pixel) อยู่ในตำแหน่งที่อยู่เบื้องหลังตัวอย่างการแสวงหารูปแบบการเลี้ยวเบนสองมิติ นอกจากนี้เครื่องตรวจจับลอยซิลิกอนในตำแหน่งที่90◦ที่เกี่ยวกับคานที่เข้ามาได้รับอนุญาตให้ลงทะเบียนพร้อมกันของสเปกตรัมเรืองแสงจึงรวมเอกซ์เรย์ XRF (แจกแจงองค์ประกอบในส่วนข้ามเสมือน) และการตรวจเอกซเรย์ XRD (แจกแจงขั้นตอน crystallographic) รูปที่ 2 สรุปรวมμ-XRF / XRD ติดตั้งเอกซ์เรย์เช่นเดียวกับวิธีการสลายตัวรูปแบบการอธิบายก่อนหน้านี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เป็น DMM เป็นที่ต้องการมากกว่า เช่น ศรี ( 111 ) โมโนโครเมเตอร์ , โดยปกติจะใช้สำหรับเลนส์แป้งที่ซินโครตรอน beamlines เนื่องจากการส่งผ่านของที่สูงขึ้น 2 θลดความละเอียดในข้อมูลวิเคราะห์ ซึ่งผลของพลังงานลดลง ความละเอียดของตัวเลขที่สัมพันธ์กับที่ของโมโนโครเมเตอร์คริสตัลคู่ ( DCM )พิสูจน์แล้วว่าเพียงพอสำหรับการวัดแสดงในการศึกษานี้ หลังจากการใช้พลังงาน 30 keV บีมได้เน้นสีหลายส่วนโดยวิธีการของหลอดเลือดฝอยเด้งเดียวแบบเป็นจุดμขนาด 15 เมตร พื้นที่ marccd ตรวจจับ ( 2 × 2 K K , 80 μ M ขนาดพิกเซล ) เป็นตำแหน่งหลังตัวอย่าง รับสองมิติโดยรูปแบบ นอกจากนี้ซิลิคอนลอยตรวจจับ , ตําแหน่งที่ 90 ◦เกี่ยวกับคานเข้ามา อนุญาตการลงทะเบียนพร้อมกันของสเปกตรัมฟลูออเรสเซนซ์ ( XRF โทโมกราฟี งบรวมองค์ประกอบการกระจายในส่วนข้ามเสมือน ) และตรวจเอกซเรย์คอมพิวเตอร์ ( การกระจายระยะทาง )รูปที่ 2 สรุปรวมμ - XRF / ตรวจเอกซเรย์คอมพิวเตอร์ รวมทั้งรูปแบบการติดตั้ง วิธีการอธิบายก่อนหน้านี้