The x-ray mapping results with WDS

The x-ray mapping results with WDS techniques were confirmed by time-of-flight secondary ion mass spectroscopy (TOF-SIMS). Figure 10 contains TOFSIMS images and confirms that silver and copper are non-uniformly distributed around dendrite arms. The analyst reported that gold and silicon displayed uniform distributions but the silicon levels were too low for valid conclusions to be reached. As in x-ray mapping, light areas are regions of high concentration and dark areas are regions of low concentration of the elements that are being observed.
Quantitative analyses at various locations within the dendritic structures were performed by electron microprobe techniques at two different laboratories. The metallographic sample used for backscatter imaging in Figure 8 was also used for this exercise. The nominal composition of the alloy is given in Table 1. The horizontal line in the photomicrograph in Figure 8 indicates the path that the microprobe beam followed across the sample.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การเอ็กซ์เรย์ผลลัพธ์ของการแม็ปกับเทคนิค WDS ได้ยืนยันตามเวลาของเที่ยวบินรองไอออนมวลก (TOF-ซิมส์) รูปที่ 10 ประกอบด้วยรูป TOFSIMS และยืนยันว่า เงินและทองแดงไม่ใช่สม่ำเสมอเมื่อเทียบเคียงกระจายทั่วแผ่นดินเดนไดรต์ การวิเคราะห์รายงานว่า ทองและซิลิคอนแสดงการกระจายสม่ำเสมอ แต่ระดับซิลิคอนต่ำเกินไปสำหรับบทสรุปที่ถูกต้องจะสามารถเข้าถึง ในการแม็ปเอ็กซ์เรย์ แสงพื้นที่เป็นขอบเขตของความเข้มข้นสูง และพื้นที่มืดคือ ขอบเขตของความเข้มข้นต่ำขององค์ประกอบที่ถูกพบเทคนิค microprobe อิเล็กตรอนที่ 2 ห้องปฏิบัติการต่าง ๆ ได้ดำเนินการวิเคราะห์เชิงปริมาณที่สถานต่าง ๆ ภายในโครงสร้าง dendritic ตัวอย่าง metallographic ที่ใช้สำหรับภาพ backscatter ในรูปที่ 8 นอกจากนี้ยังใช้สำหรับออกกำลังกายนี้ ระบุส่วนประกอบของโลหะผสมถูกกำหนดในตารางที่ 1 เส้นแนวนอนใน photomicrograph ในรูปที่ 8 แสดงเส้นทางที่คาน microprobe ตามในตัวอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ผลการทำแผนที่เอ็กซ์เรย์ด้วยเทคนิค WDS ได้รับการยืนยันจากเวลาของเที่ยวบินรองไอออนมวลสเปกโทรสโก (TOF-SIMS) รูปที่ 10 มีภาพ TOFSIMS และยืนยันว่าเงินและทองแดงจะไม่สม่ำเสมอกระจายรอบแขนประสาท นักวิเคราะห์รายงานว่าทองและซิลิกอนแสดงการกระจายเหมือนกัน แต่ระดับซิลิกอนอยู่ในระดับต่ำเกินไปสำหรับข้อสรุปที่ถูกต้องที่จะไปถึง ในขณะที่การทำแผนที่เอ็กซ์เรย์พื้นที่แสงภูมิภาคของความเข้มข้นสูงและบริเวณที่มืดเป็นภูมิภาคของความเข้มข้นต่ำขององค์ประกอบที่มีการตั้งข้อสังเกต.
เชิงวิเคราะห์ในสถานที่ต่าง ๆ ภายในโครงสร้าง dendritic ถูกดำเนินการโดยใช้เทคนิคอิเล็กตรอน microprobe สองห้องปฏิบัติการที่แตกต่างกัน ตัวอย่าง metallographic ใช้สำหรับการถ่ายภาพแสงสะท้อนในรูปที่ 8 ก็ยังใช้สำหรับการออกกำลังกายนี้ องค์ประกอบของโลหะผสมที่ระบุจะได้รับในตารางที่ 1 เส้นแนวนอนใน Photomicrograph ในรูปที่ 8 แสดงให้เห็นเส้นทางที่คาน microprobe ที่ใช้ทั่วตัวอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เอ็กซเรย์ด้วยเทคนิคแผนที่ผลลัพธ์ WDS ได้รับการยืนยันโดยครั้ง - ของ - เครื่องรองไอออนมวลสเปกโทรสโกปี ( tof-sims ) รูปที่ 10 มี tofsims ภาพ และยืนยันว่า เงินและทองแดงจะไม่จุดกระจายรอบ ๆระหว่างแขน นักวิเคราะห์รายงานว่าทองและซิลิคอนแสดงการแจกแจงสม่ำเสมอแต่ระดับซิลิคอนต่ำเกินไปสำหรับใช้ได้ข้อสรุปที่จะมาถึงในการทำแผนที่ X-ray พื้นที่ภูมิภาคของแสงความเข้มข้นสูงและบริเวณที่มืด มีพื้นที่ของความเข้มข้นต่ำขององค์ประกอบที่ถูกสังเกต
การวิเคราะห์เชิงปริมาณที่สถานที่ต่างๆภายในโครงสร้างเดนไดรติก แสดงโดยเทคนิคอิเล็กตรอนไมโครโพรบ 2 ห้องปฏิบัติการต่าง ๆMetallographic ตัวอย่างที่ใช้แบคสแคตเตอร์ภาพในรูปที่ 8 ก็ยังใช้สำหรับการออกกำลังกายนี้ องค์ประกอบที่ระบุของโลหะผสมที่ระบุในตารางที่ 1 เส้นแนวนอนในโฟโตไมโครกราฟในรูปที่ 8 แสดงเส้นทางที่ไมโครโพรบคานตามข้ามตัวอย่าง