Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) was a JEOL JSM-5600LV
(Tokyo, Japan), samples were gold sputtered before the analysis
with an Edwards Sputter Coater (Edwards Ltd., Crawley, England)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) มีการ JEOL JSM-5600LVเก็บตัวอย่างดีทอง sputtered ก่อนวิเคราะห์ (โตเกียว ญี่ปุ่น),ด้วยการเอ็ดเวิร์ด Sputter Coater (เอ็ดเวิร์ด จำกัด วิคครอวเลย์ อังกฤษ)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) เป็น JEOL JSM-5600LV
(โตเกียวประเทศญี่ปุ่น)
กลุ่มตัวอย่างเป็นทองพ่นก่อนการวิเคราะห์กับเอ็ดเวิร์ดพ่นCoater (เอ็ดเวิร์ดส์ จำกัด Crawley, อังกฤษ)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) เป็นจอล jsm-5600lv
( โตเกียว , ญี่ปุ่น ) จำนวนทอง sputtered ก่อนการวิเคราะห์
กับเอ็ดเวิร์ด ( Edwards ละล่ำละลักเครื่องเคลือบจำกัด Crawley , อังกฤษ )