The main purpose of this work is th

The main purpose of this work is the preparation of singlelayered
zirconium oxynitrides, ZrOxNy films and the relationship
between the composition and structure. Thin films, prepared
by DC reactive magnetron sputtering, were characterized
by Raman Spectroscopy (RS), and the results are correlated
with the composition, evaluated by Rutherford Backscattering
spectrometry (RBS), and the structure obtained by X-ray diffraction
(XRD).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วัตถุประสงค์หลักของงานนี้คือ การเตรียม singlelayeredoxynitrides เซอร์โคเนียม ZrOxNy ภาพยนตร์ และความสัมพันธ์ระหว่างองค์ประกอบและโครงสร้าง ฟิล์มบาง เตรียมโดย DC magnetron ปฏิกิริยาพ่น มีลักษณะโดยรามันก (RS), และผลลัพธ์มี correlatedมีองค์ประกอบ ประเมิน โดย Backscattering รูเทอร์ฟอร์ดspectrometry (RBS), และโครงสร้างที่ได้รับ โดยการเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบน(XRD)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วัตถุประสงค์หลักของงานนี้คือการเตรียมความพร้อมของ singlelayered
oxynitrides เซอร์โคเนียมภาพยนตร์ ZrOxNy และความสัมพันธ์
ระหว่างองค์ประกอบและโครงสร้าง ฟิล์มบางที่เตรียม
โดย DC ปฏิกิริยาสปัตเตอร์แมก, มีลักษณะ
โดยสเปกรามัน (RS) และผลที่มีความสัมพันธ์
กับองค์ประกอบการประเมินโดย Rutherford backscattering
spectrometry (RBS) และโครงสร้างที่ได้จากการ X-ray diffraction
(XRD)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

จุดประสงค์หลักของงานนี้คือการเตรียม singlelayered
oxynitrides เซอร์โคเนียม , zroxny ภาพยนตร์และความสัมพันธ์
ระหว่างองค์ประกอบและโครงสร้าง ฟิล์มที่เตรียมโดยปฏิกิริยาแมกนีตรอนสปัตเตอร์ DC

มีลักษณะโดยรามันสเปกโทรสโกปี ( RS ) และผลลัพธ์เป็นบวก
กับองค์ประกอบการประเมินโดย Rutherford backscattering
spectrometry ( RBS )และโครงสร้างที่ได้จาก
การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ( XRD )