A Modified D-Scan Flip Flop isused

A Modified D-Scan Flip Flop is
used to reduce test power and test time and hence the delay is
reduced as shown.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

แก้ไข D-Scan พลิก Flop ถูกนำมาใช้เพื่อลดการใช้พลังงานและเวลาในการทดสอบการทดสอบและด้วยเหตุนี้ความล่าช้าจะลดลงตามที่ปรากฏ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

แก้ไข d-scan flip flop คือ
ใช้ลดพลังงาน การทดสอบและการทดสอบเวลาและด้วยเหตุนี้ความล่าช้าคือ
ลดลงตามที่แสดง