Conventional surface analysis techn

Conventional surface analysis techniques including XPS, SAM and
ATR-FTIR provide an average surface chemistry over the area of analysis.
Conventional XPS imaging provides chemical imaging with a spatial
resolution of up to 5 μm which is too poor to highlight the different domains
in most heterogeneous surface chemistry and is time consuming.
ToF-SIMS is able to produce maps representing the elemental distribution
across a mineral surface fromthe top most one or two monolayers,
but it does not provide the same degree of chemical information as XPS
or NEXAFS. Additionally, precipitated, adsorbed, reacted and contaminant
species in the outermost molecular layers produce complex mass
spectra which are difficult if not impossible to interpret in conventional
ways [12]. To understand and evaluate the surface oxidation products
varying from particle to particle on copper–iron sulfides, there is a
need to know the surface chemical information with high lateral
resolution.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เทคนิคการวิเคราะห์พื้นผิวทั่วไปรวมถึง XPS, SAM และเอทีอาร์-FTIR ให้เคมีพื้นผิวการเฉลี่ยมากกว่าพื้นที่ของการวิเคราะห์ปกติ XPS ภาพแสดงภาพเคมีกับการอนุรักษ์พื้นที่ความละเอียดถึง 5 μm ที่ไม่ดีเกินไปเน้นโดเมนแตกต่างกันเคมีพื้นผิวแตกต่างกันมากที่สุด และใช้เวลานานToF ซิมส์จะสามารถผลิตแผนที่แสดงการกระจายธาตุข้ามพื้นผิวแร่จากด้านบนสุดหนึ่ง หรือสอง monolayersแต่ไม่มีข้อมูลสารเคมีเป็น XPS ระดับเดียวกันหรือ NEXAFS นอกจากนี้ ตกตะกอน adsorbed ปฏิกิริยาที่เกิดขึ้น และสารปนเปื้อนสปีชีส์ในชั้นโมเลกุลชั้นนอกผลิตโดยรวมที่ซับซ้อนแรมสเป็คตราที่ยากถ้าไม่ไปตีความในแบบเดิมวิธี [12] การทำความเข้าใจ และประเมินผลิตภัณฑ์ออกซิเดชันที่ผิวแตกต่างกันจากอนุภาคอนุภาคบน sulfides ทองแดงเหล็ก มีการต้องการทราบข้อมูลเคมีพื้นผิว มีด้านข้างสูงความละเอียด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เทคนิคการวิเคราะห์พื้นผิวธรรมดารวมทั้ง XPS สุขุมวิทและ
ATR-FTIR ให้เคมีพื้นผิวเฉลี่ยทั่วพื้นที่ของการวิเคราะห์.
ธรรมดาถ่ายภาพ XPS ให้การถ่ายภาพทางเคมีที่มีเชิงพื้นที่
ที่มีความละเอียดสูงถึง 5 ไมครอนซึ่งเป็นที่น่าสงสารเกินไปที่จะเน้นโดเมนที่แตกต่างกัน
ในส่วนที่แตกต่างกัน เคมีพื้นผิวและเป็นเวลานาน.
ToF-SIMS สามารถผลิตแผนที่ที่เป็นตัวแทนของธาตุกระจาย
ทั่วพื้นผิวแร่ fromthe ด้านบนมากที่สุดคนหนึ่งหรือสอง monolayers,
แต่มันก็ไม่ได้ให้การศึกษาระดับปริญญาเดียวกันของข้อมูลสารเคมีเป็น XPS
หรือ NEXAFS นอกจากนี้ตกตะกอนดูดซับปฏิกิริยาและสารปนเปื้อน
ชนิดในชั้นนอกสุดโมเลกุลผลิตมวลที่ซับซ้อน
สเปกตรัมซึ่งเป็นเรื่องยากหากไม่เป็นไปไม่ได้ที่จะตีความในแบบเดิม
วิธี [12] เพื่อทำความเข้าใจและประเมินผลิตภัณฑ์ออกซิเดชันพื้นผิว
ที่แตกต่างจากอนุภาคอนุภาคในซัลไฟด์ทองแดงเหล็กมี
ความต้องการที่จะรู้ว่าพื้นผิวทางเคมีข้อมูลกับด้านข้างสูง
ความละเอียด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เทคนิคในการวิเคราะห์พื้นผิวทั่วไปรวมถึง XPS , แซมและ
ATR-FTIR ให้เคมีพื้นผิวเฉลี่ยมากกว่าพื้นที่ของการวิเคราะห์ .
ปกติภาพให้ภาพ XPS เคมีที่มีความละเอียดเชิงพื้นที่ของμ
5 m ซึ่งยากจนเกินไปที่จะเน้นที่แตกต่างกันในพื้นผิวทางเคมีต่างกันมากที่สุดโดเมน

และเป็นเวลานานtof ซิมส์สามารถผลิตแผนที่แสดงการกระจายของแร่ธาตุ
ข้ามพื้นผิวจากด้านบนมากที่สุดหนึ่งหรือสอง monolayers
, แต่มันไม่ได้มีในระดับเดียวกันของข้อมูลทางเคมีเป็น XPS
หรือ nexafs . นอกจากนี้ , ตกตะกอน , ดูดซับ , ปฏิกิริยาถ่าน
ชนิดสุดชั้นผลิต
มวลโมเลกุลซับซ้อนสเปกตรัมที่ยากหากไม่เป็นไปไม่ได้ที่จะตีความในทางปกติ
[ 12 ] เพื่อให้เข้าใจและประเมินพื้นผิวสนิมผลิตภัณฑ์
แตกต่างจากอนุภาคอนุภาคทองแดงและเหล็กซัลไฟด์ มี
อยากรู้ข้อมูลพื้นผิวทางเคมีสูงด้านข้าง
ความละเอียด