Atomic forcemicroscopy (AFM)was use

Atomic forcemicroscopy (AFM)was used for grain sizemeasurement of
n-HA using Park AFM system from Korea, Model-XE.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ใช้สำหรับข้าว sizemeasurement ของ forcemicroscopy อะตอม (AFM)เอ็น-พาร์ค AFM ระบบจากเกาหลี รุ่น XE ฮา ใช้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

forcemicroscopy อะตอม (AFM) ที่ใช้สำหรับ sizemeasurement เม็ด
n-HA ใช้ระบบพาร์ AFM จากเกาหลีรุ่น XE

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

อะตอม forcemicroscopy ( AFM ) ใช้เมล็ด sizemeasurement ของ
n-ha โดยใช้ระบบ AFM ปาร์คจากเกาหลี รุ่น XE