2.3.2. X-ray diffraction rocking cu

2.3.2. X-ray diffraction rocking curve method
The texture degree of thin films annealed at 500 °C for 1 h has been
determined by X-ray diffraction rocking curve method [19–21]. Herein,
the rocking curve method was applied to the (110) peak of α-phase
taken from the X-ray diagram. A Lorentzian fit was applied to the
(110) peak and the parameters are given in Table 2, where it is noted
that the (110) peak corresponds to 2θ = 44.80° (i.e. θ = 22.40°).
In X-ray diffraction rocking curve method, X-ray source and detector
were fixed in a position that corresponds to 2θ of Bragg's peak (110).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.3.2. X-ray กระจายโยกวิธีโค้งระดับพื้นผิวของฟิล์มบางที่อบที่อุณหภูมิ 500 ° C สำหรับ 1 h ที่ได้รับกำหนด โดย X-ray กระจายโยกวิธีโค้ง [19 – 21] ในที่นี้ใช้วิธีโค้งโยกที่เฟสαยอด (110)นำมาจากแผนภาพเอ็กซเรย์ แบบ Lorentzian ใช้การพีค (110) และพารามิเตอร์ถูกกำหนดในตารางที่ 2 ที่มันเป็นข้อสังเกตที่จุดสูงสุด (110) สอดคล้องกับ 2θ = 44.80° (เช่นค่าθ = 22.40°)ในการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์โยกวิธีโค้ง แหล่งที่มาของ X-ray และตรวจจับถูกแก้ไขในตำแหน่งที่ตรงกับ 2θ ของ peak ของแบรกก์ (110)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.3.2 X-ray เลนส์โยกวิธีโค้ง
ระดับพื้นผิวของฟิล์มบางอบที่ 500 องศาเซลเซียสเป็นเวลา 1 ชั่วโมงได้รับการ
กำหนดโดย X-ray เลนส์โยกวิธีโค้ง [19-21] ในที่นี้
โยกวิธีโค้งถูกนำไปใช้ (110) จุดสูงสุดของαเฟส
นำมาจากแผนภาพ X-ray พอดี Lorentzian ถูกนำไปใช้
(110) สูงสุดและพารามิเตอร์ที่จะได้รับในตารางที่ 2 ซึ่งจะมีการตั้งข้อสังเกต
ว่า (110) สูงสุดสอดคล้องกับ2θ = 44.80 ° (เช่นθ = 22.40 °).
ใน X-ray เลนส์โยก วิธีโค้งแหล่งที่มา X-ray และตรวจจับ
ได้รับการแก้ไขในตำแหน่งที่สอดคล้องกับ2θยอดแบร็ก (110) ก