The powder XRD of the ZnO nanoparti

The powder XRD of the ZnO nanoparticles, ZnO nanoparticles(hydrothermal) and ZnO flowers was recorded in Rigaku Ultima IVX-ray diffractometer (Fig. 1). The diffraction peaks of the samplesare indexed which corresponds to the hexagonal wurtzite structureof ZnO (JCPDS No. 36-1451) with lattice constants of a = 0.325 nmand c = 0.521 nm. No traces of other impurities like Zn(OH)2wasobserved.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ผง XRD ของ ZnO เก็บกัก ZnO nanoparticles(hydrothermal) และ ZnO ดอกไม้ถูกบันทึกใน Rigaku ทวีดอัลติมา IVX เรย์ diffractometer (Fig. 1) แห่งการเลี้ยวเบน samplesare ดัชนีซึ่งตรงกับ structureof หกเหลี่ยม wurtzite ZnO (JCPDS หมายเลข 36 ตปา) กับค่าคงที่โครงตาข่ายประกอบของแบบ = 0.325 nmand c = 0.521 nm ไม่มีร่องรอยของสิ่งสกปรกอื่น ๆ เช่น Zn (OH) 2wasobserved

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

XRD ผงอนุภาคนาโนซิงค์ออกไซด์อนุภาคนาโนซิงค์ออกไซด์ (hydrothermal) และดอกไม้ซิงค์ออกไซด์ถูกบันทึกไว้ใน Rigaku Ultima IVX-ray diffractometer (รูปที่ 1). ยอดการเลี้ยวเบนของ samplesare การจัดทำดัชนีซึ่งสอดคล้องกับหกเหลี่ยม wurtzite structureof ซิงค์ออกไซด์ (JCPDS หมายเลข 36-1451) ที่มีค่าคงที่ตาข่าย = 0.325 nmand c = 0.521 นาโนเมตร ไม่มีร่องรอยของสิ่งสกปรกอื่น ๆ เช่น Zn (OH) 2wasobserved

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ผง XRD ของซิงค์ออกไซด์นาโนซิงค์ออกไซด์ , ซิงค์ออกไซด์นาโน ( hydrothermal ) และดอกไม้ที่ถูกบันทึกไว้ใน rigaku Ultima ivx เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( รูปที่ 1 ) การกระจายแสงบนยอดของ samplesare ดัชนีซึ่งสอดคล้องกับโครงสร้างหกเหลี่ยม wurtzite ZnO ( jcpds ไม่ 36-1451 ) กับรางค่าคงที่ = 0.325 nmand C = 0.521 nm . ไม่มีร่องรอยของสิ่งสกปรกอื่น ๆเช่น Zn ( OH ) 2wasobserved .