2.3. CharacterizationThe structure

2.3. Characterization
The structure of as-synthesized WO3 films were characterized with X-ray powder diffraction (XRD, Philips Dy 2198X, Holland, Cu Kα, λ¼1.5406 Å ) and settings of 40 mA and 40 kV at a scanning rate of 0.021/s ranging from 10 to 701 for the 2θ. The morphologies of the resulting products were investigated by scanning electron microscopy (SEM, JSM-5610LV, Japan, 20KV). Furthermore, optical properties of the resulting products were measured by UV–vis diffuse reflectance spectroscopy (Shimadzu UV 2550) with BaSO4 as the baseline correction

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.3 ลักษณะโครงสร้างของเป็นหนังสังเคราะห์ WO3 โดดเด่นด้วยเลนส์ผงรังสีเอ็กซ์ (XRD ฟิลิปส์ Dy 2198X, ฮอลแลนด์, Cu Kα, λ¼1.5406 A) และการตั้งค่า 40 มิลลิแอมป์และ 40 กิโลโวลต์ในอัตรา 0.021 สแกน / วินาที ตั้งแต่ 10-701 สำหรับ2θ
สัณฐานของผลิตภัณฑ์ที่เกิดขึ้นได้รับการตรวจสอบโดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM, JSM-5610LV, ญี่ปุ่น, 20KV) นอกจากคุณสมบัติทางแสงของผลิตภัณฑ์ที่เกิดขึ้นถูกวัดโดย UV-Vis สเปกโทรสโกสะท้อนกระจาย (Shimadzu UV 2550) ที่มีการแก้ไข BaSO4 พื้นฐาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.3 ลักษณะโครงสร้างของ wo3
ที่มีฟิล์มลักษณะการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ( ผง XRD , ฟิลิปส์ ดี้ 2198x , ฮอลแลนด์ , Cu K αλ¼ , 1.5406 Å ) และการตั้งค่าของ MA 40 และ 40 กิโล ที่อัตราการสแกน 0.021/s ตั้งแต่ 10 ถึง 701 สำหรับ 2 θ . ลักษณะของผลิตภัณฑ์ที่เกิดขึ้นได้โดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM jsm-5610lv , ญี่ปุ่น , 20kv )นอกจากนี้ สมบัติเชิงแสงของผลิตภัณฑ์ซึ่งวัดจาก– UV VIS spectroscopy ( Shimadzu กระจายสะท้อน UV 2550 ) กับ baso4 เป็นฐานการแก้ไข