Magnification in a SEM can be contr

Magnification in a SEM can be controlled over a range of up to 6 orders of magnitude from about 10 to 500,000 times. Unlike optical and transmission electron microscopes, image magnification in the SEM is not a function of the power of the objective lens. SEMs may have condenser and objective lenses, but their function is to focus the beam to a spot, and not to image the specimen. Provided the electron gun can generate a beam with sufficiently small diameter, a SEM could in principle work entirely without condenser or objective lenses, although it might not be very versatile or achieve very high resolution. In a SEM, as in scanning probe microscopy, magnification results from the ratio of the dimensions of the raster on the specimen and the raster on the display device. Assuming that the display screen has a fixed size, higher magnification results from reducing the size of the raster on the specimen, and vice versa. Magnification is therefore controlled by the current supplied to the x, y scanning coils, or the voltage supplied to the x, y deflector plates, and not by objective lens power.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สามารถควบคุมอัตราขยายใน SEM เป็นช่วงถึง 6 อันดับของขนาดประมาณ 10 ถึง 500000 ครั้ง แตกต่างจากแสง และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่ง ขยายภาพใน SEM ไม่ใช่ฟังก์ชันของพลังของเลนส์วัตถุประสงค์ เรียงหน้าหรือไม่อาจมีเครื่องควบแน่นและเลนส์วัตถุประสงค์ แต่การทำงาน การโฟกัสลำแสงให้เป็นจุด และไม่ ให้ภาพตัวอย่าง มีปืนอิเล็กตรอนสามารถสร้างลำแสง มีขนาดเล็กเพียงพอ SEM สามารถในการทำงานหลักทั้งหมดโดยไม่มีเครื่องควบแน่นหรือเลนส์วัตถุประสงค์ แม้ว่ามันอาจไม่หลากหลายมาก หรือให้ความละเอียดสูง ใน SEM เป็น ในการสแกนโพรบ microscopy ขยายผลจากอัตราส่วนของแรสเตอร์ในสิ่งส่งตรวจการและแรสเตอร์บนอุปกรณ์แสดงผล สมมติว่าจอมีขนาดคงที่ สูงขยายผลจากการลดขนาดของแรสเตอร์ในสิ่งส่งตรวจ และในทางกลับกัน ดังนั้นมีควบคุมอัตราขยาย โดยปัจจุบันให้ x, y แกนขดลวด หรือแรงดันไฟฟ้าให้ x, y deflector แผ่น และไม่ใช่ โดยเลนส์วัตถุประสงค์อำนาจ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ขยายใน SEM สามารถควบคุมได้ในช่วงถึง 6 คำสั่งของขนาดจากประมาณ 10 ถึง 500,000 ครั้ง ซึ่งแตกต่างจากแสงและการส่งผ่านกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนขยายภาพใน SEM ไม่ได้เป็นหน้าที่ของอำนาจของเลนส์ใกล้วัตถุ SEMs อาจมีคอนเดนเซอร์และเลนส์วัตถุประสงค์ แต่ฟังก์ชั่นของพวกเขาคือการมุ่งเน้นลำแสงไปยังจุดและไม่ให้ภาพตัวอย่าง มีให้ปืนอิเล็กตรอนสามารถสร้างลำแสงที่มีขนาดเล็กพอ, SEM สามารถในการทำงานหลักการทั้งหมดโดยไม่ต้องคอนเดนเซอร์หรือเลนส์วัตถุประสงค์แม้ว่ามันอาจจะไม่หลากหลายมากหรือบรรลุความละเอียดสูงมาก ใน SEM เช่นในกล้องจุลทรรศน์สอบสวนผลจากการขยายอัตราส่วนของขนาดของแรสเตอร์บนชิ้นงานและแรสเตอร์บนอุปกรณ์แสดงผล สมมติว่าหน้าจอแสดงผลมีขนาดคงที่ผลการขยายเพิ่มขึ้นจากการลดขนาดของแรสเตอร์บนชิ้นงานและในทางกลับกัน ขยายจึงถูกควบคุมโดยปัจจุบันจ่ายให้กับ x, ขดลวดสแกนและหรือแรงดันไฟฟ้าที่จ่ายให้กับ x, แผ่นแผ่นเบี่ยง y, และไม่ได้โดยอำนาจเลนส์ใกล้วัตถุ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ขยายใน SEM สามารถควบคุมได้ผ่านช่วงของคำสั่งของขนาดประมาณ 10 500000 ครั้งขึ้นไป 6 . ซึ่งแตกต่างจากแสงและส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน , รูปขยายใน SEM เป็นฟังก์ชันของพลังของเลนส์วัตถุประสงค์ . แบบอาจจะควบแน่นและวัตถุประสงค์เลนส์ แต่หน้าที่ของพวกเขาคือการมุ่งเน้น คานไป จุด และ ไม่มีภาพตัวอย่างให้ปืนอิเล็กตรอนสามารถสร้างคานที่มีเพียงพอขนาดเล็ก ซึ่งในหลักการทำงานทั้งหมดโดยไม่มีคอนเดนเซอร์ หรือเลนส์ แม้ว่ามันอาจจะไม่หลากหลายมาก หรือบรรลุความละเอียดสูงมาก ใน SEM ในการสแกนกล้องจุลทรรศน์สอบสวนขยายผลจากอัตราส่วนของขนาดของภาพบนและภาพตัวอย่างบนหน้าจออุปกรณ์สมมติว่าหน้าจอมีขนาดคงที่สูง ขยายผลจากการลดขนาดของภาพบนชิ้นงาน และในทางกลับกัน ขยาย จึงควบคุมโดยการป้อนให้กับขดลวดแกน X , Y หรือแรงดันไฟฟ้าที่จ่ายให้กับ x , y deflector แผ่น ไม่ใช่ด้วยพลังเลนส์วัตถุประสงค์