It was found that there is a strong

It was found that there is a strong correlation between the substrate bias,
film structure and properties. At the bias of 0V, ZrN films characterize with random orientation, low surface roughness, small grain size.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

พบว่า มีความสัมพันธ์ที่แข็งแกร่งระหว่างความโน้มเอียงของพื้นผิวคุณสมบัติและโครงสร้างของฟิล์ม ที่อคติของ 0V ภาพยนตร์ ZrN ลักษณะแนวสุ่ม ความหยาบผิวที่ต่ำ ขนาดเม็ดเล็ก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ก็พบว่ามีความสัมพันธ์ที่แข็งแกร่งระหว่างอคติตั้งต้น
โครงสร้างและคุณสมบัติฟิล์ม ที่มีอคติของ 0V ฟิล์ม ZRN ลักษณะด้วยการวางสุ่มพื้นผิวที่ขรุขระต่ำขนาดเม็ดเล็ก ๆ