the structure that are embedded in

the structure that are embedded in the measured data by
deducting their contribution. Traces on the board can cause a
larger measured impact than the device under test itself [9].

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โครงสร้างที่ฝังอยู่ในข้อมูลที่วัดด้วยหักเงินสมทบของพวกเขา สามารถทำให้เกิดร่องรอยบนกระดานผลวัดใหญ่กว่าอุปกรณ์ภายใต้ทดสอบตัวเอง [9]

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โครงสร้างที่ฝังอยู่ในข้อมูลที่วัดได้โดยหักผลงานของพวกเขา ร่องรอยบนกระดานสามารถก่อให้เกิดผลกระทบต่อการวัดขนาดใหญ่กว่าอุปกรณ์ภายใต้การทดสอบตัวเอง [9]

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างที่ฝังอยู่ในข้อมูลที่วัดโดย
หักส่วนของพวกเขา ร่องรอยบนกระดานสามารถก่อให้เกิดผลกระทบขนาดใหญ่กว่า
วัดอุปกรณ์ภายใต้การทดสอบตัวเอง [ 9 ]