The specific surface area and pore

The specific surface area and pore size distribution
of catalysts were measured by N2 adsorption in
a Micromeritics ASAP 2000. A diffusive reflective
UV–VIS spectrophotometer (Hitachi U-3410) was
employed to measure the UV–VIS absorption and estimate
the bandgap of the catalysts. The particle size
distribution in aqueous solution was obtained using
a Coulter LS230 particle size analyzer. Transmission
electron microscopy (TEM) and scanning electron
microscopy with energy dispersive X-ray spectrometer
(SEM-EDX, Philips XL30, EDAX DX4) were
used to observe the morphology of catalysts and estimate
the elemental ratio. The crystalline phase was
identified by X-ray diffraction (MAC MO3XHF). The
chemical status and shift of the catalyst surface were
analyzed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS).
XPS measurements were taken on a VG Microtech
MT500 spectrometer, operated with a constant pass
energy of 50 eV and with Mg K radiation as the
excitation source (hν = 1253.6 eV). The catalyst was
pressed into a pellet, and then adhered on sample
holder by carbon tape. Oxygen (1 s, 530.7 eV for
TiO2) [6] and carbon (1 s, 284.5 eV) were taken as
internal standards for binding energy calibration. The
fluorescence spectra of catalysts were measured by a
Jasco FP-777 fluorescence spectrophotometer at an
excitation wavelength of 370 nm.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การระบุพื้นผิวตั้งและรูขุมขนขนาดกระจายของสิ่งที่ส่งเสริมถูกวัด โดยการดูดซับของ N2 ในเป็นอนุภาคศาสตร์ 2000 โดยเร็ว กับ diffusive สะท้อนแสงเป็นเครื่องทดสอบกรดด่าง UV – VIS (ฮิตาชิ U-3410)การวัดการดูดซึม UV – VIS และประเมินbandgap ของสิ่งที่ส่งเสริมการ ขนาดอนุภาคใช้แจกจ่ายในละลายกล่าวการ Coulter LS230 อนุภาคขนาดวิเคราะห์ ส่งอิเล็กตรอน microscopy (ยการ) และอิเล็กตรอนสแกนmicroscopy กับพลังงาน dispersive เอกซเรย์สเปกโตรมิเตอร์(เรื่อง XL30 ฟิลิปส์ EDAX DX4) ได้ใช้ในการสังเกตรูปร่างสิ่งที่ส่งเสริม และประเมินอัตราส่วนธาตุ เฟสผลึกได้ระบุ โดยการเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบน (MAC MO3XHF) ที่สถานะทางเคมีและกะผิวเศษวิเคราะห์ โดยเอกซเรย์ photoelectron ก (XPS)วัด XPS ที่ถ่ายบน VG MicrotechMT500 สเปกโตรมิเตอร์ ดำเนินการผ่านอย่างต่อเนื่องพลังงาน ของ 50 eV และรังสี Mg K เป็นต้นทางในการกระตุ้น (hν = 1253.6 eV) เศษได้กดลงเม็ด และปฏิบัติตามในตัวอย่างแล้วยึด ด้วยเทปคาร์บอน ออกซิเจน (1 s, 530.7 eV สำหรับTiO2) [6] และคาร์บอน (1 s, 284.5 eV) ถูกนำมาเป็นมาตรฐานการปรับเทียบพลังงานยึดเหนี่ยวภายใน ที่แรมสเป็คตรา fluorescence ของสิ่งที่ส่งเสริมถูกวัดโดยการเครื่องทดสอบกรดด่าง fluorescence Jasco FP-777 ที่มีความยาวคลื่นในการกระตุ้นของ 370 nm

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

พื้นที่ผิวจำเพาะและการกระจายขนาดรูขุมขน
ของตัวเร่งปฏิกิริยาถูกวัดโดยการดูดซับ N2 ใน
อนุภาคศาสตร์ ASAP 2000 diffusive สะท้อน
Spectrophotometer UV-VIS (Hitachi U-3410) ถูก
ใช้ในการวัดการดูดซึมรังสี UV-VIS และประเมิน
bandgap ของตัวเร่งปฏิกิริยา . ขนาดอนุภาค
จำหน่ายในสารละลายที่ได้รับใช้
โคลเตอร์ LS230 วิเคราะห์ขนาดอนุภาค การส่งผ่าน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) และการสแกนอิเล็กตรอน
กล้องจุลทรรศน์ด้วยพลังงานกระจายสเปกโตรมิเตอร์ X-ray
(SEM-EDX ฟิลิปส์ XL30, EDAX DX4) ถูก
นำมาใช้ในการสังเกตลักษณะทางสัณฐานวิทยาของตัวเร่งปฏิกิริยาและประมาณการ
อัตราส่วนธาตุ ผลึกถูก
ระบุ X-ray diffraction (MAC MO3XHF)
สถานะทางเคมีและการเปลี่ยนแปลงของพื้นผิวของตัวเร่งปฏิกิริยาที่ถูก
วิเคราะห์โดย X-ray spectroscopy โฟโตอิเล็กตรอน (XPS).
วัด XPS ถูกนำ VG Microtech
สเปกโตรมิเตอร์ MT500 ดำเนินการที่มีอย่างต่อเนื่องผ่าน
การใช้พลังงานของ 50 eV และ Mg K? รังสีที่เป็น
แหล่งที่มากระตุ้น (hν = 1,253.6 eV) ตัวเร่งปฏิกิริยาถูก
กดลงเม็ดและจากนั้นปฏิบัติตามตัวอย่าง
โดยผู้ถือเทปคาร์บอน ออกซิเจน (1 วินาที, 530.7 eV สำหรับ
TiO2) [6] และคาร์บอน (1 วินาที, 284.5 eV) ถูกนำมาเป็น
มาตรฐานภายในสำหรับผลผูกพันการสอบเทียบพลังงาน
สเปกตรัมการเรืองแสงของตัวเร่งปฏิกิริยาถูกวัดโดย
สเปกเรืองแสง Jasco FP-777 ที่
ความยาวคลื่นกระตุ้นของ 370 นาโนเมตร

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เฉพาะพื้นที่ผิวและขนาดรูพรุนกระจาย
ของตัวเร่งปฏิกิริยาโดยการดูดซับในวัด 2 : สหภาพมาลายา ASAP 2000 เป็นกระจายสะท้อนแสง UV Spectrophotometer ( ฮิตาชิ )
3
u-3410 ) ถูกใช้เพื่อวัดและประเมินปริมาณการดูดกลืน UV )
bandgap ของตัวเร่งปฏิกิริยา ขนาดอนุภาคกระจายในสารละลายได้

เป็นโคลเตอร์ ls230 ขนาดอนุภาคโดยใช้เครื่องวิเคราะห์ .กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเกียร์
( TEM ) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดด้วยพลังงานกระจายตัว X-ray Spectrometer

( sem-edx ฟิลิปส์ xl30 edax , dx4 )
เคยสังเกตลักษณะของตัวเร่งปฏิกิริยาและประมาณการ
อัตราส่วนของธาตุ เฟสผลึกคือ
ระบุโดยการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ ( Mac mo3xhf )
เคมีสถานะและเปลี่ยนของพื้นผิวตัวเร่งปฏิกิริยาถูก
โดยใช้เครื่อง X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS )
XPS การวัดบน VG ไมโครเทค
mt500 สเปกโตรมิเตอร์ใช้พลังงานผ่าน
คงที่ 50 EV และมิลลิกรัม K  รังสีเป็นแหล่งกระตุ้น
( H ν = 1253.6 EV ) ตัวเร่งคือ
อัดเป็นเม็ด แล้วปฏิบัติตาม จากตัวอย่าง
ถือเทปคาร์บอน ออกซิเจน ( 1 , 530.7 EV สำหรับ
TiO2 ) [ 6 ] และคาร์บอน ( 1 , 284 .5 EV ) ถ่ายตอน
มาตรฐานภายในสำหรับการสอบเทียบพลังงานผูกพัน
เรืองแสงสเปกตรัมของตัวเร่งปฏิกิริยาที่ถูกวัดโดย
jasco fp-777 เรืองวัสดุที่
กระตุ้นความยาวคลื่น 370 nm .