2.3.7. Particle morphologyParticle

2.3.7. Particle morphology
Particle morphology was evaluated by field emission scanning
electron microscopy (FE-SEM) according to Mishra et al. (2014) and
slight modifications. The powder were mounted onto stubs with
double-sided adhesive tape, and the samples were coated with a
thin layer of gold under vacuum. Then, the samples were examined
on an FE scanning electron microscope (SU8020, HITACHI, Japan) at
5 kV and 5000-fold magnification. The taking microphotographs was carried out with a camera coupled to the microscopic (Cano-Chauca et al., 2005).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.3.7. สัณฐานวิทยาอนุภาคสัณฐานวิทยาอนุภาคซึ่งประกอบ ด้วยแกนการปล่อยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FE SEM) ตามมิชราเกส์ et al. (2014) และการปรับเปลี่ยนเล็กน้อย ผงถูกติดตั้งลงในตู้ด้วยเทปกาวสองหน้า และตัวอย่างที่ถูกเคลือบด้วยความชั้นบาง ๆ ของทองภายใต้สุญญากาศ แล้ว ได้ตรวจตัวอย่างบนตัว FE กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SU8020 ฮิตาชิ ญี่ปุ่น) ที่5 kV และขยาย 5000-fold Microphotographs การดำเนินการกับกล้องควบคู่ไปกับกล้องจุลทรรศน์ (โน Chauca et al. 2005)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.3.7 อนุภาคสัณฐานวิทยา
ของอนุภาคสัณฐานถูกประเมินโดยข้อมูลการปล่อยก๊าซสแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FE-SEM) ตาม Mishra, et al (2014) และ
การปรับเปลี่ยนเล็กน้อย ผงถูกติดตั้งลงบนต้นขั้วด้วย
เทปกาวสองหน้าและตัวอย่างที่ถูกเคลือบด้วย
ชั้นบาง ๆ ของทองภายใต้สูญญากาศ จากนั้นกลุ่มตัวอย่างมีการตรวจสอบ
ใน FE กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SU8020 Hitachi, ญี่ปุ่น) ที่
5 กิโลโวลต์และขยาย 5000 เท่า microphotographs การได้ดำเนินการพร้อมกับกล้องควบคู่กับกล้องจุลทรรศน์ (Cano-Chauca et al., 2005)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ดาวน์โหลด . สัณฐานวิทยาของอนุภาคสัณฐานวิทยาของอนุภาคที่ประเมินโดยการสแกนฟิลด์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( fe-sem ) ตาม Mishra et al . ( 2014 )การปรับเปลี่ยนเล็กน้อย ผงที่ติดบนบัตรด้วยเทปกาวสองหน้า และทำการเคลือบด้วยชั้นบางของทองภายใต้สุญญากาศ แล้วทำการตรวจสอบเมื่อเฟกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( su8020 , ฮิตาชิ , ญี่ปุ่น )5 กิโล 5000 พับและขยาย . การ microphotographs ดำเนินการควบคู่ไป ด้วยกล้องจุลทรรศน์ ( CANO chauca et al . , 2005 )