whereas in AM50 and AZ91 alloys, be

whereas in AM50 and AZ91 alloys, besides the elements
cited, also Al was registered, due to its presence in the
alloy. The quantitative results of EDS analysis of the crosssectioned
surface layers (excluding oxygen that forms with
the other elements oxides and phosphates) are reported in
Table 3. EDS elemental profiles were performed among
the cross-section of the samples in order to evaluate the
composition of the layer along the thickness. The elemental
profile carried out in the layer of AZ91, obtained at
0.45 A cm-2 for 60 s, showed that no variations in elemental
concentration along the cross-section of the coating
was registered, except for sodium, whose concentration
increased near the surface (Fig. 7). In addition, a slight
increase of F, in proximity of the surface was observed.
The tests on AM50 and commercially pure magnesium
gave the same results obtained for AZ91 alloy with an
enrichment of sodium and F (less marked for this last
element) in the portion of the layer near the surface.
XRD analysis was performed only on the samples of
pure commercially magnesium and of AZ91 and AM50
alloys treated at 0.45 A cm-2 for 60 s. The patterns are
presented in Fig. 8. In all patterns the presence of the Mg
peak was observed, due to the reflection from the substrate.The peaks of magnesium phosphate Mg(PO3)2, magnesium
oxide MgO, and sodium fluoride NaF, were visible in all
the alloys. In AM50 and AZ91 alloys also the presence of
aluminium oxides (Al2O3) and mixed aluminium-magnesium
oxides (MgAl2O4) were detected. The composition of
the layer was clearly connected with the electrolyte used in
this PEO process, constituted by an alkaline solution of
sodium phosphate and sodium fluoride. Therefore, in the
coating phosphates and fluorides could be found. The
presence of NaF could be due to the adsorption effect on
the surface. As a matter of fact, from EDS analysis an
enrichment of these two elements resulted near the surface.
In order to obtain information about the composition and
the state of oxidation of the elements in the ceramic oxide
layer obtained with PEO process, XPS analysis (without
sputtering) were performed on the sample of pure commercial
Mg treated at 0.45 A cm-2
. The survey spectrum
of the sample is shown in Fig. 9. From the collected
spectrum of the main photoelectron lines (C1s, O1, F1s,
Na1s, Mg1s and P2p), the atomic percentages of the elements
present in the external surface of the coating were
calculated. The layer resulted to be principally constituted
by O, Mg, F, P and Na, in agreement with the previous

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในขณะที่ใน AM50 และโลหะผสม AZ91
นอกเหนือจากองค์ประกอบอ้างยังอัลได้รับการจดทะเบียนเพราะการปรากฏตัวในโลหะผสม
ผลการวิเคราะห์เชิงปริมาณของ EDS ของ crosssectioned
ชั้นพื้นผิว
(ไม่รวมออกซิเจนที่รูปแบบที่มีองค์ประกอบอื่นๆ ออกไซด์และฟอสเฟต)
มีการรายงานในตารางที่3 EDS
โปรไฟล์ธาตุได้ดำเนินการในหมู่ข้ามส่วนของกลุ่มตัวอย่างในการสั่งซื้อเพื่อประเมินองค์ประกอบของ
ชั้นตามความหนา ธาตุรายละเอียดการดำเนินการในชั้นของ AZ91 ที่รับได้ที่ 0.45 ซม-2 เป็นเวลา 60 วินาที, แสดงให้เห็นว่ารูปแบบที่ไม่มีในธาตุเข้มข้นตามแนวตัดขวางของสารเคลือบผิวได้รับการจดทะเบียนยกเว้นโซเดียมที่มีความเข้มข้นเพิ่มขึ้นใกล้ผิวน้ำ(รูปที่. 7) นอกจากนี้เล็กน้อยเพิ่มขึ้น F ในความใกล้ชิดของพื้นผิวที่ได้รับการตั้งข้อสังเกต. การทดสอบบน AM50 และในเชิงพาณิชย์แมกนีเซียมบริสุทธิ์ให้ผลลัพธ์ที่เหมือนกันที่ได้รับสำหรับโลหะผสมAZ91 กับการเพิ่มคุณค่าของโซเดียมและF (ทำเครื่องหมายน้อยในช่วงนี้องค์ประกอบ) ใน ส่วนหนึ่งของชั้นใกล้พื้นผิว. ที่วิเคราะห์XRD ได้ดำเนินการเพียงตัวอย่างของแมกนีเซียมบริสุทธิ์ในเชิงพาณิชย์และAZ91 และ AM50 ผสมได้รับการรักษาที่ 0.45 ซม-2 เป็นเวลา 60 วินาที รูปแบบจะถูกนำเสนอในรูป 8. ในทุกรูปแบบการปรากฏตัวของมิลลิกรัมสูงสุดพบว่าเนื่องจากการสะท้อนจากยอดsubstrate.The ฟอสเฟตแมกนีเซียม Mg (PO3) 2, แมกนีเซียมออกไซด์แมกนีเซียมออกไซด์และโซเดียมฟลูออไรNaF เป็นที่มองเห็นได้ในทุกโลหะผสม ใน AM50 และโลหะผสม AZ91 ยังปรากฏตัวของอะลูมิเนียมออกไซด์(Al2O3) และอลูมิเนียมผสมแมกนีเซียมออกไซด์(MgAl2O4) ตรวจพบ องค์ประกอบของชั้นที่เกี่ยวข้องอย่างชัดเจนกับอิเล็กโทรไลที่ใช้ในกระบวนการPEO, ประกอบด้วยสารละลายด่างของโซเดียมฟอสเฟตและโซเดียมฟลูออไร ดังนั้นในฟอสเฟตเคลือบฟลูออไรและอาจจะพบ การปรากฏตัวของ NaF อาจเป็นเพราะผลการดูดซับบนพื้นผิว เป็นเรื่องของความเป็นจริงจากการวิเคราะห์ EDS เพิ่มคุณค่าของทั้งสององค์ประกอบผลใกล้พื้นผิว. เพื่อให้ได้ข้อมูลเกี่ยวกับองค์ประกอบและรัฐของการเกิดออกซิเดชันขององค์ประกอบในออกไซด์เซรามิกที่ชั้นรับกับกระบวนการPEO วิเคราะห์ XPS (โดยไม่สปัตเตอร์) ได้รับการดำเนินการในเชิงพาณิชย์ตัวอย่างบริสุทธิ์Mg รับการรักษาที่ 0.45 ซม-2 สเปกตรัมการสำรวจของกลุ่มตัวอย่างที่มีการแสดงในรูป 9. จากที่เก็บรวบรวมสเปกตรัมของโฟโตอิเล็กตรอนสายหลัก(C1s, O1, F1s, Na1s, Mg1s และ P2P) ที่ร้อยละอะตอมของธาตุที่มีอยู่ในพื้นผิวภายนอกของสารเคลือบผิวที่ถูกคำนวณ ส่งผลให้ชั้นจะต้องประกอบด้วยหลักโดย O, Mg, F, P และนาในข้อตกลงกับก่อนหน้านี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ขณะที่ใน am50 az91 และโลหะ นอกจากนี้องค์ประกอบ
อ้าง นอกจากนี้ อัล จดทะเบียน เนื่องจากตนใน
โลหะผสม ผลการศึกษาเชิงปริมาณของการวิเคราะห์ crosssectioned
ผิวชั้น ( ไม่รวมกับออกซิเจนที่รูปแบบ
องค์ประกอบอื่นๆ ออกไซด์ และฟอสเฟต ) มีรายงานใน
โต๊ะ 3 ธาตุ EDS แสดงระหว่าง
โปรไฟล์ขนาดของตัวอย่างเพื่อประเมิน
ส่วนประกอบของชั้นตามความหนา ธาตุ
ดำเนินการในชั้นของ az91 ได้รับที่
0.45 เป็น cm-2 เป็นเวลา 60 วินาที แสดงให้เห็นว่าไม่มีการเปลี่ยนแปลงความเข้มข้นของธาตุ
ตามขนาดของการเคลือบ
จดทะเบียน ยกเว้นโซเดียมที่มีความเข้มข้น
เพิ่มขึ้นใกล้พื้นผิว ( รูปที่ 7 ) นอกจากนี้เพิ่มขึ้นเล็กน้อย
F ในความใกล้ชิดของพื้นผิว ) .
ทดสอบ am50 และในเชิงพาณิชย์ แมกนีเซียมบริสุทธิ์
ให้เหมือนกัน ผลที่ az91 โลหะผสมที่มีการเสริมโซเดียม
f ( น้อยกว่าทำเครื่องหมายนี้สุดท้าย
ธาตุ ) ในส่วนของชั้นใกล้ผิว .
การวิเคราะห์รังสีเอ็กซ์คือ แสดงเฉพาะในตัวอย่าง
บริสุทธิ์แมกนีเซียมและ az91 ในเชิงพาณิชย์และโลหะผสมรักษา am50
045 cm-2 60 s ลวดลาย
นำเสนอในรูป 8 ในรูปแบบการแสดงตนของมก
สูงสุดพบว่า เนื่องจากการสะท้อนจากพื้นผิว ยอดของแมกนีเซียมฟอสเฟตแมกนีเซียม Mg ( po3 ) 2
ออกไซด์ MgO , และโซเดียมฟลูออไรด์นาฟ , มองเห็นได้ในทุก
โลหะผสม ใน am50 az91 โลหะผสมและยังมีอลูมิเนียมออกไซด์ ( Al2O3 ) และ

แมกนีเซียมอลูมิเนียมผสมออกไซด์ ( mgal2o4 ) ถูกตรวจพบ องค์ประกอบของ
ชั้นชัดเจนต่อกับอิเล็กโทรไลต์ที่ใช้ในกระบวนการนี้ขึ้นโดย PEO
, สารละลายด่างของ
ฟอสเฟตโซเดียมฟลูออไรด์ เพราะฉะนั้น ในการเคลือบฟอสเฟตและฟลูออไรด์
สามารถพบได้
ตนของกลุ่มอาจจะเนื่องจากการดูดซับผลกระทบ
พื้นผิว เป็นเรื่องของความเป็นจริงจากการวิเคราะห์ EDS เป็น
เสริมองค์ประกอบเหล่านี้สองให้ใกล้พื้นผิว
เพื่อให้ได้ข้อมูลเกี่ยวกับองค์ประกอบและ
สภาพออกซิเดชันขององค์ประกอบในชั้นออกไซด์ด้วยกระบวนการประชา
เซรามิกได้รับการวิเคราะห์ XPS ( โดยไม่
ทำงาน ) จำนวนตัวอย่างของบริสุทธิ์พาณิชย์ถือว่าเป็น cm-2 0.45 ต่อ

การสำรวจสเปกตรัม
ของตัวอย่างที่แสดงในรูปที่ 9 จากการรวบรวม
สเปกตรัมของเส้นหลัก ( photoelectron c1s 01
na1s , ไก่ไข่ , และ , mg1s P2P ) , เปอร์เซ็นต์ของอะตอมของธาตุ
ปัจจุบันในพื้นผิวภายนอกของผิวเคลือบมี
คํานวณ ชั้น ทำให้ถูกหลักบัญญัติ
โดย O มก. , F , P และนา ในข้อตกลงก่อนหน้านี้