The microstructure and chemical com

The microstructure and chemical composition of the polished cross-sections of
the pervious concrete specimens were examined by the back-scattered electrons
image mode of low vacuum scanning electron microscopy (SEM), using JEOL
5500 LV equipment.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ต่อโครงสร้างจุลภาคและสารเคมีส่วนประกอบของ cross-sections สวยงามของไว้เป็นตัวอย่างคอนกรีต pervious ถูกตรวจสอบ โดยอิเล็กตรอนกระจายอยู่หลังโหมดภาพต่ำดูดแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) ใช้ JEOLอุปกรณ์ LV 5500

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

จุลภาคและองค์ประกอบของสารเคมีที่ขัดข้ามส่วนของ
ตัวอย่างคอนกรีตซุยมีการตรวจสอบโดยการกลับกระจัดกระจายอิเล็กตรอน
โหมดภาพของสูญญากาศต่ำกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) โดยใช้ JEOL
5500 LV อุปกรณ์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างและองค์ประกอบทางเคมีของและขัดของ
ซุยคอนกรีตทำการตรวจสอบโดยกลับกระจายอิเล็กตรอน
ภาพโหมด low vacuum กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) , ใช้จอล

5500 LV อุปกรณ์