The structural quality and surface

The structural quality and surface morphology of the epitaxial layers was assessed by high resolution X-ray diffraction (HRXRD) and atomic force microscope (AFM), respectively. The typical spectral responsivity of the P–I–N devices was taken using a calibrated black body source and a Fourier transform infrared spectroscopy system.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ที่มีคุณภาพและพื้นผิวที่มีโครงสร้างทางสัณฐานวิทยาของชั้น epitaxial ได้รับการประเมินจากความละเอียดสูงตามลำดับและแรงอะตอมกล้องจุลทรรศน์ (ด้าน) การเลี้ยวเบน (HRXRD) เอกซเรย์ ที่ถูกนำมาใช้เป็นแหล่งที่ร่างกายปรับเทียบสีดำและแปลงฟูริเยระบบอินฟราเรด P-ฉัน-N สเปกตรัมปกติของอุปกรณ์ responsivity

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ที่มีคุณภาพและพื้นผิวที่มีโครงสร้างทางสัณฐานวิทยาของชั้น epitaxial ได้รับการประเมินจากความละเอียดสูง X-ray การเลี้ยวเบน (HRXRD) และแรงอะตอมกล้องจุลทรรศน์ (AFM) ตามลำดับ responsivity สเปกตรัมปกติของอุปกรณ์ P-I-N ที่ถูกนำมาใช้เป็นแหล่งที่ร่างกายปรับเทียบสีดำและแปลงฟูริเยระบบอินฟราเรด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างคุณภาพและลักษณะพื้นผิวของชั้น epitaxial ถูกประเมินโดยการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ความละเอียดสูง ( hrxrd ) และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) ตามลำดับ การ responsivity สเปกตรัมปกติของ P และ N ฉัน–อุปกรณ์ถูกใช้โดยร่างกายสีดำที่มาและฟูเรียร์ระบบอินฟราเรดสเปกโทรสโกปี