and instantly placed on a hot plate

and instantly placed on a hot plate at a temperature of 400 C.
After one hour at this temperature, the device is again instantly
removed from the hot plate and cooled down to room temperature,
mounted on the PCB, and tested inside the environmental
chamber, and the entire process is repeated. Fig. 10 shows test
results for this sensor both before and after two exposures to the
high temperature environment. As evident, the response is quite
linear and consistent. The shift in capacitance (offset) is perhaps
due to the fact that the polyimide film has been further dried and
depleted of any residual moisture which may have been trapped
in it during processing. After the second exposure to 400 C,
we see very little change in the sensor sensitivity or offset. Out
of the devices that we tested from the 660 and 1200 Å batch,
all of them survived during the high temperature cycling step.
The yield from the 300-Å devices was about 70%. This loss is
most likely due to aluminum diffusing through the pinholes in
the polyimide at this high temperature. The failed 300-Å devices
as tested display very low resistance (few Ohms) indicative of
a short between the two electrodes. As suggested by the manufacturer
(Dupont) the polyimide film has pinholes and cannot
be reliably manufactured for thicknesses less than 300 Å.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

และทันทีที่วางไว้บนจานร้อนอุณหภูมิ 400 cหลังจากหนึ่งชั่วโมงที่อุณหภูมินี้ อุปกรณ์เป็นอีกทันทีเอาออกไปจากจานร้อน และเย็น ๆ ลงที่อุณหภูมิห้องติดตั้งบน PCB และทดสอบภายในสิ่งแวดล้อมหอการค้า และกระบวนการทั้งหมดจะถูกทำซ้ำ ทดสอบการแสดง fig. 10ผลลัพธ์สำหรับเซ็นเซอร์นี้ทั้งก่อน และหลัง จากสองภาพเพื่อการสภาพแวดล้อมอุณหภูมิสูง เห็นได้ชัด การตอบสนองเป็นค่อนข้างเส้นตรง และสอดคล้องกัน กะในความ (ตรงข้าม) อาจจะเป็นเนื่องจากข้อเท็จจริงที่ว่าแห้งการฟิล์ม polyimide เพิ่มเติม และสิ้นสุดลงของความชื้นตกค้างใด ๆ ที่อาจมีการติดในระหว่างการประมวลผล หลังจากการสัมผัสสอง 400 Cเราเห็นการเปลี่ยนแปลงเล็กน้อยในความไวของเซนเซอร์หรือตรงข้าม ออกอุปกรณ์ที่เราทดสอบจากชุดÅ 660 และ 1200ทั้งหมดรอดชีวิตระหว่างขั้นตอนการขี่อุณหภูมิสูงผลผลิตจากอุปกรณ์ 300 Åเป็นประมาณ 70% ขาดทุนนี้จะส่วนใหญ่เนื่องจากอลูมิเนียม diffusing ผ่าน pinholes ในpolyimide นี้อุณหภูมิสูง อุปกรณ์ล้มเหลว 300-Åเป็นการทดสอบการแสดงผลต่ำมากความต้านทาน (ไม่กี่โอห์ม) ส่อสั้น ๆ ระหว่างหุงต 2 ที่แนะนำ โดยผู้ผลิต(ดูปองท์) polyimide ฟิล์มมี pinholes และไม่ได้ถูกผลิตขึ้นสำหรับความหนาน้อยกว่า 300 Å

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

และวางไว้ทันทีบนจานร้อนที่อุณหภูมิ 400
ซีหลังจากหนึ่งชั่วโมงที่อุณหภูมินี้อุปกรณ์ที่เป็นอีกครั้งทันทีลบออกจากจานร้อนและเย็นลงที่อุณหภูมิห้อง, ติดตั้งอยู่บน PCB และการทดสอบด้านสิ่งแวดล้อมภายในห้องและกระบวนการทั้งหมดจะถูกทำซ้ำ รูป 10 แสดงให้เห็นว่าการทดสอบผลสำหรับเซ็นเซอร์นี้ทั้งก่อนและหลังสองเสี่ยงกับสภาพแวดล้อมที่มีอุณหภูมิสูง ในฐานะที่เป็นที่เห็นได้ชัดการตอบสนองที่ค่อนข้างเชิงเส้นและสอดคล้องกัน การเปลี่ยนแปลงในความจุ (offset) อาจจะเป็นความจริงที่ว่าpolyimide ฟิล์มที่ได้รับการอบแห้งต่อไปและหมดลงของความชื้นตกค้างใดๆ ที่อาจได้รับการติดอยู่ในนั้นระหว่างการประมวลผล หลังจากได้รับที่สอง 400 ซีที่เราเห็นการเปลี่ยนแปลงน้อยมากในความไวของเซ็นเซอร์หรือชดเชย ออกของอุปกรณ์ที่เราทดสอบจาก 660 และ 1200 ชุดทั้งหมดของพวกเขารอดชีวิตมาได้ในช่วงอุณหภูมิสูงขั้นตอนการขี่จักรยาน. อัตราผลตอบแทนจากอุปกรณ์ 300-A เป็นประมาณ 70% การสูญเสียนี้คือน่าจะเกิดจากอลูมิเนียมกระจายผ่านรูในpolyimide ที่อุณหภูมิสูงนี้ ล้มเหลวอุปกรณ์ 300-A เป็นจอแสดงผลการทดสอบความต้านทานต่ำมาก (ไม่กี่โอห์ม) บ่งบอกถึงความสั้นๆ ระหว่างสองขั้วไฟฟ้า เป็นข้อเสนอแนะจากผู้ผลิต(Dupont) polyimide ฟิล์มมีรูและไม่สามารถผลิตได้อย่างน่าเชื่อถือสำหรับความหนาน้อยกว่า300 Å

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

และในทันทีที่วางอยู่บนจานร้อนที่อุณหภูมิ 400 C .
หลังจากหนึ่งชั่วโมง ที่อุณหภูมินี้ เป็นอุปกรณ์อีกทันที
ออกจากจานร้อนและเย็นลงถึงอุณหภูมิ
ติดบน PCB และทดสอบภายในสิ่งแวดล้อม
ห้องและกระบวนการทั้งหมดอีกครั้ง รูปที่ 10 แสดงผลการทดสอบ
เซ็นเซอร์นี้ ทั้งก่อนและหลังการรับชม
2สภาพแวดล้อมที่อุณหภูมิสูง เป็นที่ประจักษ์ การตอบสนองค่อนข้าง
เชิงเส้น และสอดคล้องกัน การเปลี่ยนแปลงในความจุ ( ชดเชย ) เป็นบางที
เนื่องจากความจริงที่ว่าภาพยนตร์ polyimide ได้รับเพิ่มเติมแห้ง
หมดของความชื้นใด ๆตกค้างซึ่งอาจได้รับการติดกับดัก
อยู่ในระหว่างการประมวลผล หลังจากการถ่ายภาพครั้งที่สอง 400 C
เราเห็นการเปลี่ยนแปลงน้อยมากในเซ็นเซอร์ความไวหรือชดเชย อก
ของอุปกรณ์ที่เราได้ทดสอบจาก 660 และ 1200 •ชุด
ทั้งหมดที่รอดชีวิตในช่วงอุณหภูมิสูงจักรยานก้าว .
ผลผลิตจาก 300 - อุปกรณ์•ประมาณ 70% การสูญเสียนี้
มากที่สุดเนื่องจากการกระจายผ่านรูในอลูมิเนียม
polyimide ที่อุณหภูมิสูงนี้ ล้มเหลว 300 - •อุปกรณ์
เป็นทดสอบความต้านทานแสดงน้อยมาก ( ไม่กี่โอห์ม
) บ่งบอกถึงสั้น ๆระหว่างสองขั้วไฟฟ้า ตามคำแนะนำโดยผู้ผลิต
( Dupont ) polyimide ฟิล์มมีรู และไม่สามารถ
จะเชื่อถือผลิตความหนาที่น้อยกว่า 300 • .