The X-ray diffraction pattern and S

The X-ray diffraction pattern and SEM image of the TiO2
nanoparticles and aluminum powders are shown in Fig. 1.
The figure shows the absence of spurious diffraction, which
indicates the crystallographic purity

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบ X-ray การเลี้ยวเบนและภาพ SEM ของ TiO2
อนุภาคนาโนและผงอลูมิเนียมที่มีการแสดงในรูป 1.
รูปที่แสดงให้เห็นถึงตัวตนของเลนส์ปลอมซึ่ง
แสดงให้เห็นถึงความบริสุทธิ์ crystallographic

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ลวดลายการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ และด้วยภาพลักษณ์ของ TiO2อนุภาคนาโนและผงอลูมิเนียม แสดงในรูปที่ 1รูปแสดงการขาดของการเลี้ยวเบนที่ปลอม ,บ่งบอกถึงความบริสุทธิ์ทาง