The polycrystalline CdSe films were

The polycrystalline CdSe films were deposited by the close-spaced vacuum sublimation technique at the
different substrate temperatures (373e873 K). Surface morphology, grain size and growth mechanism of
the films were determined by the scanning electron microscopy. The X-ray diffraction analysis of
structural and sub-structural properties of the films was carried out to study their phase composition
and growth texture. The main structural parameters of thin films, such as texture, lattice parameter, grain
size, scattering domain size and micro-stress level have been determined in the work depending on the
condensation film conditions. RBS and FTIR analysis shows that obtained films in general are homogenous
and pure. As a result, the growth conditions of CdSe polycrystalline films with good crystal quality
were determined.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ฟิล์ม CdSe คฝากเงิน โดยเทคนิคปิดระยะห่างการระเหิดสิวที่ตัวอุณหภูมิพื้นผิวที่แตกต่างกัน (373e873 K) สัณฐานวิทยาผิว กลไกขนาดและการเติบโตของเมล็ดของภาพยนตร์ถูกกำหนด โดย microscopy อิเล็กตรอนสแกน การวิเคราะห์การเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบนของคุณสมบัติโครงสร้าง และโครงสร้างย่อยของภาพยนตร์ได้รับการดำเนินการศึกษาองค์ประกอบของขั้นตอนและพื้นผิวเจริญเติบโต โครงตาข่ายประกอบโครงสร้างพารามิเตอร์หลักของฟิล์มบาง เช่นเนื้อ พารามิเตอร์ เมล็ดข้าวขนาด scattering โดเมนขนาด และระดับความเครียดไมโครกำหนดในการทำงานขึ้นอยู่กับการสภาพฟิล์มมีหยดน้ำเกาะ วิเคราะห์ FTIR และ RBS แสดงที่ได้รับฟิล์มโดยทั่วไปจะให้และบริสุทธิ์ ภาพยนตร์ดัง เงื่อนไขการเติบโตของค CdSe กับคริสตัลดีคุณภาพได้กำหนด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

polycrystalline
วางโดยเทคนิคการระเหิดสูญญากาศใกล้ระยะห่างที่อุณหภูมิพื้นผิวที่แตกต่างกัน( สัณฐานพื้นผิว
ขนาดของเมล็ดข้าวและกลไกการเจริญเติบโตของภาพยนตร์ที่ถูกกำหนดโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน การวิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ของโครงสร้างและคุณสมบัติย่อยโครงสร้างของภาพยนตร์ที่ได้รับการดำเนินการถึงขั้นตอนการศึกษาองค์ประกอบของพวกเขาและพื้นผิวการเจริญเติบโต พารามิเตอร์ของโครงสร้างหลักของฟิล์มบางเช่นเนื้อตาข่ายพารามิเตอร์เม็ดขนาดกระเจิงขนาดโดเมนและระดับจุลภาคความเครียดได้รับการพิจารณาในการทำงานขึ้นอยู่กับสภาพการรวมตัวภาพยนตร์ RBS วิเคราะห์แสดงให้เห็นว่าได้รับภาพยนตร์โดยทั่วไปจะเป็นเนื้อเดียวกันและบริสุทธิ์ เป็นผลให้สภาพการเจริญเติบโตของ ภาพยนตร์ที่มีคุณภาพที่ดีคริสตัลได้รับการพิจารณา

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ที่เป็นของ cdse ฟิล์มฝากโดยปิดระยะเทคนิคการระเหิดสุญญากาศที่อุณหภูมิแตกต่างกัน ( 373e873
( K ) พื้นผิว ขนาดเกรนและกลไกการเจริญเติบโตของ
ฟิล์มกำหนดโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด . การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์การวิเคราะห์
โครงสร้างและสมบัติเชิงโครงสร้างของฟิล์มย่อยได้ศึกษาองค์ประกอบของเฟส
พื้นผิวและการเจริญเติบโต โครงสร้างของฟิล์มบางพารามิเตอร์หลัก เช่น เนื้อ , แลตทิซพารามิเตอร์ขนาดเม็ด
, กระจายโดเมนขนาดและระดับความเครียด ไมโครได้รับการมุ่งมั่นในการทำงานขึ้นอยู่กับ
การควบแน่นของฟิล์มภาพRBS และการวิเคราะห์ FTIR พบว่าได้รับภาพยนตร์โดยทั่วไปเป็น homogenous
และบริสุทธิ์ ผลการ cdse เงื่อนไขของผลึกคริสตัลคุณภาพเยี่ยม
ภาพยนตร์ด้วยตัวอย่าง