The microstructure of the ceramics

The microstructure of the ceramics on the surface was evaluated by field scanning electron microscopy (SEM) (Quanta 600 FEG,FEI) at an accelerating volt of 20 keV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ต่อโครงสร้างจุลภาคของเซรามิกส์บนพื้นผิวถูกประเมิน โดยฟิลด์แกนอิเล็กตรอน microscopy (SEM) (Quanta 600 FEG หุย) ที่มีโวลต์ปัจจุบัน 20 keV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

จุลภาคของเซรามิกบนพื้นผิวที่ไ​​ด้รับการประเมินโดยสนามสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) (ควอนตั้ม 600 FEG, FEI) ที่เร่งโวลต์ 20 เคฟ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างจุลภาคของเซรามิกบนพื้นผิวสนามที่ประเมินโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ( 600 FEG Quanta , ที่เฟย ) เร่งโวลต์ 20 เคฟ